医疗保险索赔数据的广义Pareto分布拟合

How to choose an optimal threshold is a key problemin the generalized Pareto distribution (GPD) model.This paper attains the exactthreshold by testing for GPD,and shows that GPD model allows the actuary to easily estimate high quantiles and the probable maximum loss from the medical insurance claims data.     

改进中学物理教学适应"3+综合"考试

当代科技发展的主流是综合化、整体化,表现出各学科之间互相渗透、相互交叉的趋势.开展综合测试,有利于打破学科间的隔离状态,给学生提供完整的世界图像;     

氮化铝薄膜的光学性能

分别使用X衍射仪和紫外（190 nm～800 nm）分光光度仪,测量了用分子束外延法生长在SiC（001）基底面上的AIN薄膜的X衍射、透射谱和不同温度下的吸收谱.X衍射表明:实验所用的AIN薄膜在c-轴存在应变和应力，该应变和应力主要是由于AIN的晶格常量与基底SiC的晶格常量不匹配所致.透射谱表明:AIN薄膜的禁带宽度大约为6.2eV；而其对应的吸收谱在6.2eV处存在一个明显的台阶,此台阶被认为是AIN薄膜中的带边自由激子吸收所产生,忽略激子的结合能(与禁带宽度相比),则该值就对应为AIN的禁带宽度.而其对应的不同温度下（10 k～293 k）的吸收谱的谱线的形状和位置无明显的变化表明:温度对AIN薄膜的禁带宽度亦无明显的影响，这主要是由于在AIN薄膜中存在着应力所致.     

紫外波段CH2I2分子的光解离动力学研究

利用离子速度成像方法,研究CH2I2分子在277—305nm范围内若干波长处的光解离动力学.通过同一束激光经(2+1)共振多光子电离(REMPI)过程探测光解碎片I(2P32)和I(2P12),得到了不同激发波长处的离子速度分布图像,从而获得CH2I2光解产物的能量分配和角分布.实验发现,碎片CH2I自由基有很高的内能激发,约占总可资用能的80%,该能量分配可以较好地用冲击模型来解释.实验还发现,产物I(2P32)和I(2P12)具有很不相同的平动能分布,结合所得到的碎片能量分配和角分布,我们对碎片I(2P32)和I(2P12)生成机理进行了分析,指出CH2I2分子电子激发态的绝热和非绝热解离决定了碎片的平动能分布. 关键词： CH2I2 离子速度成像 绝热和非绝热解离     

类Kerr介质中双模SU(1,1)相干态场与Λ型三能级原子相互作用的量子统计性质

导出了类Kerr介质中双模SU(1,1)相干态场与Λ型三能级原子相互作用系统的态函数,研究了Kerr效应对Λ型三能级原子布居概率、双模SU(1,1)相干态场的互关联函数、Cauchy-Schwartz不等式及二阶相干度的影响.结果表明:Kerr效应使原子与光场的耦合减弱,原子布居的崩塌与复苏的周期缩短;在初始光场较弱和较强两种情况下,类Kerr介质对双模SU(1,1)相干态场两模间的相关性、相关程度以及光子的聚束与反聚束效应产生的作用有明显的区别.     

提前还贷及其隐含期权的分析

可提前还款的定期贷款是隐含着期权的利率衍生物，本文建立CIR利率模型下可提前还款的定期贷款的数学模型，通过离散偏微分方程，建立了模型的计算方法，讨论了随机利率对提前还贷的影响．     

夯实基础培养能力——从2002年理综考试看物理教学

2002年理综考试共30题,物理试题有10题,其中客观题6题,主观题4题,共120分.内容很贴近课本,没有出现前两年较为热门的"信息题",考试更加注重对学生的学习基础、学习能力的考查.试题灵活而不落俗套,新颖而不离基础,强调能力而不偏离教材,考查素质而不脱离实际.     

关于组合最优化理论的多媒体教学实践

本文讨论和分析了开发组合最比化理论系列课程多媒体课件的基本认识、课件的主要特色和体会，并提出了使用多媒体课件中应注意的问题．     

纳米流体介质导热机理初探

纳米流体导热行为具有许多奇异的特性，结合纳米流体的特点和微尺度传热学原理，研究了 热流在纳米颗粒内波动式及非限域的热传导特性、纳米颗粒在悬浮液内的布朗运动、颗粒- 液体界面上液膜层原子的有规则排列、以及纳米颗粒的团簇形成及移动等四方面因素对纳米 流体导热系数的影响. 关键词： 纳米流体 导热     

Focused ion beam Moiré method

A focused ion beam (FIB) Moiré method is proposed to measure the in-plane deformation of object in a micrometer scale. The FIB Moiré is generated by the interference between a prepared specimen grating and FIB raster scan lines. The principle of the FIB Moiré is described. The sensitivity and accuracy of deformation measurement are discussed in detail. Several specimen gratings with 0.14 and 0.20 μm spacing are used to generate FIB Moiré patterns. The FIB Moiré method is successfully used to measure the residual deformation in a micro-electro-mechanical system structure after removing the SiO₂ sacrificial layer with a 5000 lines/mm grating. The results demonstrate the feasibility of this method.