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1.
近十余年来,X射线化学分析法已被广泛采用。利用X射线进行化学分析,有三类不同方法:衍射分析法,发射光谱分析法和吸收分析法。衍射分析法常称物相分析,它是根据晶态物质的X射线衍射花样的特征和衍射线的强度来进行定性与定量分析的。分析结果直接给出样品中所含晶体的种类、数目及其相对含量。非晶态物质沒有一定的衍射花样,故不能用此法分析。发射光谱分析法(包括初级发射光谱法及熒光X光谱分析法)的原理与通常的光学光谱分析法相同,是根据各种元素所固有的特征X射线的波长及强度来进行定性定量分析的,分析结果给出样品中所含元素的种类及含量。上述二法本刊已先后作过介绍,本文之目的是要对吸收分析法的原理、设备及应用作一简要介绍。 相似文献
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溶液-粉末压片法XRF分析NdFeB磁性材料的成分 总被引:4,自引:0,他引:4
结合化学酸溶方法制备样品和使用X射线荧光(XRF)光谱测量试样,建立了NdFeB合金常见主量和痕量杂质元素的快速定量分析方法。同时自制一套参考标样。方法简单。流程短,可以满足准确定量的要求。 相似文献
3.
微量元素铬的分析方法研究进展 总被引:2,自引:0,他引:2
就国内外近年来对食品,药物,环境等样品中铬元素的分析方法研究进展进行了综述。主要有分光光度法,原子吸收分光光度法,荧光分析法,化学发光法,电化学分析法,电感耦合等离子体发射光谱法,色谱法,质子诱发X-射线分析法和共振瑞利散射法。 相似文献
4.
《理化检验(化学分册)》2016,(11)
用手持式能量色散型X射线荧光光谱仪直接快速测定内墙合成树脂乳液涂料墙面中铅、镉、铬、砷等4种有害元素的含量,用外标法定量。以模拟样品为基体制作上述4种元素的工作曲线,4种元素的质量分数在120 mg·kg-1范围内与其荧光强度呈线性关系。实样测定结果表明:上述4种元素含量大于10mg·kg-1时,本方法的结果与电感耦合等离子体原子发射光谱法的测定结果相符。 相似文献
5.
制备了一套适用于X射线荧光光谱法测定聚丙烯(PP)材料中5种有害元素(铅、镉、铬、汞和溴)的标准样品。首先,制备聚丙烯材料目标元素高含量母粒,然后通过逐级稀释的方法制备目标元素含量梯度的样品原料,最后制得符合X射线荧光光谱分析使用要求的标准样品。采用电感耦合等离子体原子发射光谱法和离子色谱法测定所制得标准样品中各元素的含量。所制备的用于X射线荧光光谱分析的PP标准样品通过F检验和t检验,得到统计量F相似文献
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赵普琇 《理化检验(化学分册)》2012,(6):724-725
金的测定方法有滴定法、分光光度法、原子吸收光谱法、原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法和电化学分析法等[1],用X射线荧光光谱法(XRF)测定金的报道不多[1-2]。由于大多数样品中金的含量甚微,因此,测定之前一般都需进行分离和富集,以消除共存元素的干扰、提高检测的灵敏度和准确度。常用的分离和富集方法有活性炭吸附、树脂及负载吸附剂树脂吸附、聚氨酯泡沫塑料及负载萃取 相似文献
8.
矿石中钼的测定方法有分光光度法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和X射线荧光光谱法等[1-4]。在这些方法中用常规的火焰原子吸收光谱法测定矿石中钼,由于钼很难被原子化,测定灵敏度很低,且地质样品中共存元素的干扰非常严重[5],一般很难测定。本工作用4种酸溶解 相似文献
9.
研究了基于统计学习理论的支持向量机(SVM)回归法在X射线荧光光谱定量分析中的应用。以39个农田土壤样品作为实验材料,以其中32个土壤样品作为校正集,选用SVM模型中Linear、Poly和RBF 3种核函数对As元素含量与荧光光谱数据进行回归建模。用3种不同模型对预测集中7个土壤样品的As元素含量进行预测分析,结果显示模型预测As元素含量与电感耦合等离子体发射光谱法测定的As元素含量之间的相关系数R2均大于0.99,相对分析误差RPD均大于3,表明所建立的SVM模型具有较好的使用价值。为了进一步考察SVM回归模型的预测效果,同应用较成熟的PLS回归模型的预测结果进行对比,结果显示SVM法的预测结果更好,表明SVM回归模型亦可用于便携式X射线荧光光谱法的定量预测分析。 相似文献