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Ⅱ—Ⅵ族半导体研究概观 总被引:2,自引:0,他引:2
回顾了Ⅱ-Ⅵ族半导体材料的研究状况。结合国际上的最新研究动态,总结出Ⅱ-Ⅵ族半导体材料研究的主要方向:(1)p型掺杂研究;(2)p型Ⅱ-Ⅵ族半导体的欧姆接触;(3)Ⅱ-Ⅵ族外延结构中的电子,激子增益;(4)量子线,量子点及稀磁半导体。 相似文献
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物理学,特别是凝聚态物理学与材料科学的交叉在近几十年已取得丰硕的研究成果,文章分四部分:(1)简要介绍了材料与材料科学的基本概念;(2)回顾近代历史上物理学与材料科学交叉的一些典型例子;(3)介绍在表面和界面、缺陷、理论和模型、微结构表征、新材料以及新工艺等领域物理学与材料科学交叉的简况及材料研究的一些前沿问题;(4)讨论物理学在纳米材料发展中的作用。 相似文献
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随着科学技术的不断发展,人们正在寻求更新的实用材料.金属氧化物,包括金属氧化物薄膜的各种实用材料,在工业界、信息产业界和能源开发等方面的应用前景,早已引起国内外学者的极大关注.例如,由于氧化物具有各种特殊的介电和光学性质,研究和开发基于氧化物薄膜的气敏材料非常热门.如何制备出有实用价值的各种薄膜材料,是科学家们一直关心和深入研究的课题.电子能谱技术在各种材料的基础研究和实际应用中起着重要的作用.本文以有序金属氧化物薄膜研制为例,简要评述了电子能谱技术(包括X射线光电子能谱(XPS),紫外光电子能谱(UPS),俄歇电子能谱(AES)和高分辨电子能量损失谱(HREELS)),以及低能电子衍射(LEED)等技术在氧化物薄膜材料制备和表征中的应用. 相似文献
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铁电体独特的自发电极化双稳性质和非线性光学性质使其在光电子器件中得到广泛应用.为了实现器件的小型化和与微电子、光电子工艺兼容,铁电薄膜已成为一个研究热点.自发电极化的大小和取向以及外电场、缺陷和铁电薄膜/电极界面与自发电极化的交互作用决定了铁电薄膜的性质和服役行为.文章以铁电存储器和光电子器件应用为背景,选择了具有重大应用前景的Bi4-xLaxTi3O12(BLT)、SrBi2Ta2O9(SBT)、PbZrxTi1-xO3(PET)和LiNbO3(LN)铁电薄膜以及相关的La(Sr,Co)O3(LSCO)和LaNiO3(LNO)等电极材料为研究对象,研究了缺陷电荷和电畴的交互作用和它们在交变外电场中的动力学行为,探明了铁电薄膜疲劳现象的物理本质;从晶格结构与缺陷的观察研究入手,探索了材料铁电性质的起源和优化材料铁电性质的途径;从铁电薄膜/电极界面结构与性质的研究入手,寻找更有效、更稳定的电极材料与结构,从而为器件应用打下了基础;在研究外电场对铁电薄膜生长机制影响的基础上,找到了利用外电场调控铁电薄膜结构的新途径,发展了新的、与半导体器件和光电子器件工艺兼容的制膜方法. 相似文献
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为了获得相关因素对基于相干探测相敏光时域反射计(φ-OTDR)的分布式声波传感(DAS)系统测量准确性的影响规律,根据光纤中后向瑞利散射理论建立相干探测φ-OTDR仿真模型。基于该模型生成不同测量参数下的后向瑞利散射信号,采用IQ解调算法确定了振动位置、还原了振动信号,计算了振动检测信噪比和失真度。结果表明:采样率可以小于声光调制器(AOM)频率的2倍;宽范围内随着采样率的提高,振动检测信噪比与失真度不是严格单调增加或降低;模数转换器(ADC)量化位数在8~16位范围内变化时对系统解调结果的影响不大;随着入射光脉冲宽度减小、振动点与入射端距离增加,振动检测信噪比分别呈双指数、线性规律下降,失真度分别呈双指数、幂函数规律增加;随着掺铒光纤放大器(EDFA)放大倍数提高,振动检测信噪比呈幂函数规律提升,失真度在高、低噪声时分别呈幂函数、双指数规律下降。 相似文献
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稀土Er离子注入InP晶体中Er发光中心的形成和光激发机制 总被引:2,自引:0,他引:2
用离子注入法对InP晶体实现高浓度稀土(RE)Er的掺杂,探索了优质材料的制作规律和条件。在低温(10-200K)测量了光致发光谱(PL),观测到Er的尖锐发光峰,其峰值波长1.538μm,其发光强度较大;研究了该材料的热退火行为,Er发光中心的形成和光激活过程;用Rutherford背散射谱(RBS)测量给出了热退火前后注Er-InP晶体中Er离子浓度的数值及深度分布;并对Er发光中心的组成和光 相似文献