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用Smoluchowski方程研究了角动量对一个轻的闭壳核132Sn裂变前粒子蒸发壳效应的影响,发现壳对断前粒子发射的影响敏感地依赖于这个裂变系统的角动量.对可能的原因进行了讨论 相似文献
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用一个包含了半导体探测器, 液体闪烁计数器和60%效率的HPGe探测器的四参数关联实验测量了252Cf(sf)反应的中子多重性和γ多重性与裂变碎片特征参数(质量, 总动能TKE)间的关联. 由于在测量裂变中子多重性绝对值的同时, 本工作首次从实验数据确定了特定碎片的γ多重性的绝对值, 故测量数据为进一步深入研究碎片角动激发提供了新的信息. 结果表明, 角动激发并不与裂变核在断点的形变成正关联, 但两者间却存在着复杂的关联特性. 实验数据不能从现有核理论的弯曲(bending)和扭动(wriggling)碎片角动量激发模式得到理解; 但可用碎片角动激发与裂变核的断点核激发能存在正关联而得到部分解释. 相似文献
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用推广的裂变扩散模型研究了28Si+164,167,170Er→192,195,198Pb反应中测量的断前中子、质子和α粒子多重性的激发函数.发现扩散模型能很好地拟合这些轻粒子多重性随裂变系统激发能和Pb同位素的变化趋势.表明断前粒子发射存在一个同位素效应.进而在一个考虑了裂变过程中摩擦效应的统计模型的框架内,在In和Er这两个元素的同位素链中,考察了同位素效应与裂变碎片质量不对称性和裂变系统尺度的关系.计算结果表明:同位素效应的存在不依赖于裂变系统的大小和不对称性.此外,当裂变系统具有高的中质比时,轻带电粒子发射将不再敏感于裂变延迟时间的长短,而中子发射则非常敏感.这个结果暗示对那些特别丰中子的裂变系统,轻带电粒子(质子和α粒子)的多重性对于研究热核裂变过程中的摩擦强度不是一个好的探针. 相似文献
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在Smoluchowski方程的框架内,研究了同位旋对轻裂变同量异位素源110Tc,110Pd,110In和同位素源110,117,124In裂变前粒子发射的影响.计算结果表明:断前粒子发射对裂变源的同位旋有很强的依赖性,随着同位旋的增加,中子发射增强,而轻带电粒子则减弱;对一个高同位旋的系统,质子和α粒子不适合作为提取核耗散强度的实验观测量;核耗散强度的大小不改变同位旋对粒子发射的影响规律 相似文献
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10.6MeV/u 84Kr+27Al碰撞中粒子发射的方位角分布和方位角关联 总被引:1,自引:0,他引:1
叶巍 沈文庆 马余刚 冯军 T.Nakagawa K.Yuase-Nakagawa K.Furutaka K.Matsuda Y.Futami K.Yoshida J.Kasagi S.M.Lee 《中国物理 C》1997,21(1):1-7
研究了10.6MeV/u 84Kr+27Al反应中与碎片符合的轻带电粒子发射,重点研究了用二阶傅里叶级数拟合发射粒子的方位角分布和方位角关联得出的二阶各向异性系数的性质.结果证实了一个事件中的粒子都以相同方位角分布统计独立发射.发现二阶各向异性系数同碎片的质量用微弱的信赖性,并随发射粒子质量的增加而增加. 相似文献
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在25MeV/u 40Ar+115In反应的在平面和出平面大角度关联测量中,提取了碎片和α粒子之间的方位角关联函数和方位角非对称性因子.φ=90°时,方位角关联函数呈现为最小值,表明在集体类转动效应影响下,反应产生的轻带电粒子和碎片优先在反应平面内发射.随着关联对质量的增加,在平面关联粒子的发射相对于束流轴不对称性逐渐增大.随着关联对质量的增加,相继衰变和粒子末态相互作用对φ=0°的关联粒子对方位角关联函数值的影响逐渐降低并直至消失,同时集体转动效应增强,方位角非对称性增加. 相似文献
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25MeV/u 40Ar+115In反应碎片和轻带电粒子能量关联 总被引:1,自引:1,他引:0
通过对 25MeV/u40Ar+115 In反应 θlab= 15°的邻近几何条件下的轻带电粒子和出射碎片之间的关联测量,观察到了两体相继衰变机制的存在.其中,轻带电粒子和碎片的关联角度谱在小角度成峰,最可几角度约2°左右;轻带电粒子能谱峰位,随关联对的质量增加而逐渐增高;质量较轻的原始产物容易受到激发,通过发射轻带电粒子而衰变成轻中等质量碎片.在两体相继衰变中,原始激发产物发射重质量的轻带电粒子的产额或几率要大于质量轻的轻带电粒子,具体测量发现,与轻带电粒子11,21H,31H和a粒子关联的碎片(Zf=4—14)总的产额比为1:1.3:1.78:7.57. 相似文献
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利用小相对角关联方法测量了25MeV/u40Ar+93Nb反应中关联出射的轻粒子.通过与三体弹道模型的比较,从关联函数提取了轻粒子的发射时间.结果表明,轻粒子的发射时间随粒子能量的升高而降低,从低能的约600fm/c下降至高能的约50fm/c.将此数据与40Ar+197Au反应中的发射时间进行了比较,发现随着实验室系角度的增加,提取的轻粒子的发射时间变长,并认为其原因在于随发射角度的增加,前平衡发射成份越来越少,平衡发射成份增加. 相似文献
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使用Monte-Carlo模拟计算了垒下16O+232Th系统转移裂变和复合核裂变碎片角分布及角关联.转移过程、熔合过程和裂变过程分别用半经典模型、耦合道模型及鞍点过渡态统计模型进行模拟.考虑了各物理量分布产生的运动学效应及裂前中子发射和裂后碎片粒子蒸发对碎片角分布及角关联的影响.模拟结果和实验测量的分布相一致.使用折叠角技术借助Monte-Carlo模拟区分转移裂变和复合核裂变是可能的.考虑了转移裂变和裂前中子发射的影响,复合核裂变碎片角分布各向异性异常仍然存在. 相似文献
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用气体电离室-半导体位置灵敏探测器望远镜测量了46.7MeV/u 12C离子轰击197Au,115In,58Ni靶时,在大角区发射的从Li到Mg的复杂碎片能谱;由各碎片的能谱提取了蒸发源的温度和碎片发射的最可几动能Ep,并与=Vcoul+2T计算的平均动能进行了比较,发现实验上提取的最可几动能Ep总是低于计算的.用A.Friedman简单的统计公式对复杂碎片的产额进行粗糙拟合,拟合结果令人满意. 相似文献
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在25MeV/u 40Ar+natAg、209Bi反应中,用4个PPAC和11组望远镜完成了关联裂变碎片与发射轻粒子的符合测量,角关联描绘为两个被探测到碎片折叠角θff的函数,线性动量转移〈LMT〉由测量到的角关联推出.将符合测量得到的对应于不同窗的后角轻带电粒子能谱用Maxwell分布来拟合其谱的后沿,经过一些修正,由能谱得到热核的初始温度Tint,在考虑反应Q值和预平衡发射的修正之后,可以得到不同窗所对应的激发能.实验结果表明,在40Ar+natAg、209Bi反应的中心碰撞中激发能分别为4.2、2.4MeV/u,而温度达6.1、5.5MeV,在半中心碰撞中激发能为3.5、1.9MeV/u,温度可达5.8、4.8MeV. 相似文献
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采用改进的坩埚下降法成功地生长了Tm/Yb共掺氟化钇锂单晶. 该单晶体具有每吸收一个蓝色光子并能发射出2个1000 nm近红外光子的下转换发光效应. 测定了样品的激发光谱、发射光谱和荧光衰减曲线. 在465 nm蓝光激发下观察到由Yb3+:2F5/2→2F7/2能级跃迁所致的960~1050 nm 波段的发射带,此发光带源于Tm3 对Yb3 离子的能量下转换过程. 应用Inokuti-Hirayama模型,研究了晶体的能量转换过程,结果表明Tm3 向Yb3 的能量传递是一个电偶极子相互作用机制过程. 当Tm3 与Yb3 离子的掺杂浓度为0.49mol%与5.99mol%时,单晶的量子剪裁效率达到最大值167.5%. 相似文献
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针对线性函数拟合的情况构造了一种无偏的因子化形式的χ2估计量, 用以处理关联数据的极小化. 详细比较并说明了有偏性与无偏性χ2拟合的区别. 利用简化的R值测量数据对相关的结论进行了定量的检验. 相似文献
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本文应用坩埚下降法技术在全密封铂金坩埚条件下生长了不同Pr3+离子掺杂浓度的高质量LiLuF4单晶. 测定了单晶体从420 nm至500 nm的激发光谱. 在446 nm光激发下,观察到单晶体480 nm(3P0→3H4)蓝色发射带、522 nm(3P1→3H5)绿色发射及605 nm(1D2→3H4)的红色发射,其对应的平均寿命分别为38.5、37.3和36.8 μs. 其荧光寿命明显大于Pr3+掺杂的氧化物单晶. 同时研究了激发波长和掺杂浓度对发射强度以及色度坐标的影响. 获得最佳的Pr3+浓度为∽0.5 mol%,并分析了环境温度从298 K 到443 K变化对荧光强度的影响. 结果表明随着温度的增加,荧光强度逐步变弱,其中3P0→3H4(480 nm)能级跃迁受温度影响最大,其次是3P1→3H5和1D2→3H4. 相似文献
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为研究Yb3+离子浓度变化对Tm3+离子在蓝色波段荧光强度的影响,以NaF和La(NO3)3为原料,采用水热法制备了Tm3+和Yb3+共掺的Tm3+/ Yb3+∶LaF3纳米颗粒.用X射线衍射对LaF3纳米颗粒进行表征的结果显示,纳米晶体结构呈六方相.透射电镜的观测结果显示,纳米颗粒样品大小均匀、分散性良好.在波长为800 nm的激光激发下,观测到了上转换蓝光发射,其中包括波长为474 nm和479 nm的较强的荧光辐射(相应的跃迁为1G4→3H6)和波长位于450 nm的强度较弱的荧光发射(相应的跃迁为1D2→3F4).通过观测不同Yb3+离子浓度条件下共掺Tm3+/Yb3+∶LaF3样品的荧光光谱,研究了Yb3+离子掺杂浓度对于Tm3+离子的荧光发射的影响,并探讨了产生这种现象的原因.研究结果显示,对于1G4→3H6跃迁产生的荧光发射(474 nm),当Yb3+离子浓度增大时,反向能量传递速率的增加导致了荧光强度的增大.然而,当Yb3+离子浓度增大到一定程度时,Yb3+离子激发态能级寿命的减少将引发荧光强度的下降.相比较而言,Yb3+离子的浓度的变化对于1D2→3F4跃迁产生的位于450 nm处荧光强度的影响较弱. 相似文献