τ±→π±+nπ0+ντ(n=0,1,2)衰变分支比测量

基于北京谱仪收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,分析τ^±τ^±→e^±+π^±+nπ⁰+ν's(n=0,1,2)事例,给出分支比值Br(τ^±→π^±ν_τ)=(11.64±0.49^+0.76_－0.73%,Br(τ^±→π^±π⁰ν_τ)=(24.00±1.34^+1.36_－1.30%,Br(τ^±→π^±2π⁰ν_τ)=(9.39±1.68^+1.69_－1.66%.     

确定τ~＋τ~－→eμ（υ）衰变道事例选择效率的一种半实验方法

在τ质量的测量中，事例的选择效率是一个重要的参数．本工作采用半实验的方法，给出了，ττ→ｅμ（υ）的事例选择效率ε＝（１４．５±０．７±０．８）％，并讨论了各种修正因素．此结果与τ质量双参数拟合所给结果相一致．     

神经元网络在τ→ρVτ极化分析中的应用

在LEP/L3的τ→ρV_τ极化物理分析中,用人工神经元网络法选择事例,获得了比较高的选择效率.详细研究表明,网络本身不会引入明显的系统偏差.使用在Z⁰能区采集到的8977个τ⁺τ^－对事例,得到τ→ρVτ道的极化率P_τ=－0.129±0.050±0.050.本文介绍在这一工作中使用的神经网络训练方法和技巧.     

通过τ→a1v→π±π0π0v道测量由Z0衰变的τ的极化不对称性

利用L3合作组1992年和1993年的数据,通过τ→a₁v→π^±π⁰π⁰v道测量了由Z⁰衰变的τ的极化不对称性A_pol=－0.239±0.126±0.100,其中第一项误差为统计误差,第二项误差为系统误差.由此推断有效电弱混合角sin²θ_w=0.2197±0.0219.     

τ→π±2π0v结构函数的测量

首次对τ→π^±2π⁰v衰变的结构函数进行了模型无关的实验测量,并与KS模型、IMR模型和Feindt模型进行了比较,在误差范围内,三种理论模型与实验结果一致.与OPAL组测量的τ→3π^±v道的结构函数相比,在0.52范围内未发现明显差异.     

神经元网络在τ→ρV_τ极化分析中的应用

在ＬＥＰ／Ｌ３的τ→ρＶτ极化物理分析中，用人工神经元网络法选择事例，获得了比较高的选择效率．详细研究表明，网络本身不会引入明显的系统偏差．使用在Ｚ０能区采集到的８９７７个τ＋τ－对事例，得到τ→ρＶτ道的极化率Ｐτ＝－０．１２９±０．０５０±０．０５０．本文介绍在这一工作中使用的神经网络训练方法和技巧     

在北京正负电子对撞机(BEPC)上τ质量的实验测量

在北京高能物理研究所正负电子对撞机(BEPC)上进行了τ轻子质量测量.τ⁺τ^－事例由北京谱仪(BES)探测,总积分亮度为5000nb^－1.用最大似然函数法选择逼近阈值的测量点能量,并最终确定τ轻子的质量为1776.9±0.4±0.2MeV.     

现实的一代ETC模型对Zbb、Zτ+τ－顶角的辐射修正

在一个现实的一代扩展人工色(ETC)模型中,计算了旁路(Sideways)及对角(diagonal)ETC规范玻色子交换对Zbb、Zτ⁺τ^－顶角的单圈辐射修正.结果表明Z→bb过程的衰变宽度Γ_b、分支比R_b以及τ的极化不对称参数A_τ都较标准模型的要大,与最近的实验数据相符.     

τ衰变中米歇尔(Michel)参数的测量

分析北京谱仪(BES)收集的4.03GeV质心系能量下e⁺e^－对撞数据,选出e⁺e^－→τ^±τ⁺→e^±X⁺v′S事例,X^±可以为μ^±,τ^±,ρ^±,拟合τ→ev′s中电子的能谱,得到τ→ev′s中Michel参数为ρ_τ→e=0.705,此结果与标准模型的预言相符合.     

e+e－→τ+τ－,τ－→a1υτ,a1→ρπ过程的角分布和a1介子的性质

给出了过程e⁺e^－→τ⁺τ^－,τ^－→a₁υ_τ,a₁→ρπ的密度矩阵和角分布的螺旋度形式.通过分段拟合把相应于W-a₁跃迁和强作用顶点a₁ρπ形状因子的螺旋度振幅比确定下来,给出了一个确定宽共振态a₁质量和宽度而与模型无关的方法.     

ψ(3770)→J/ψπ+π—强跃迁过程的首次观测

观测到ψ(3770)衰变到J/ψπ⁺π^—非DD末态迹象.利用工作在北京正负电子对撞机上的北京谱仪探测器在质心系能量3.773GeV附近获取的8.0±0.5pb^-1数据样本,共观测到6.8±3.0个ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—事例.由此得到的分支比为BF(ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—)=(0.59±0.26±0.16)%,其对应的分宽度为Γ(ψ(3770)→J/ψπ⁺π^—)=(139±61±41)keV.     

s=4.03GeV下τ±→π+π－π±υτ衰变的测量

利用北京谱仪(BES)在4.03GeV正负电子对撞能量下获取的数据,[研究了,τ+τ-产生过程.借助双标记方法分析了τ±→π+π-π±υτ衰变事例.测定分支比Br(τ±→a1±υτ→ρ0π±υτ,ρ0→π+π-=(7.3±0.5)%,Br(τ±→K*±υτ→Ks0π±υτ,Ks0→π+π-)=(0.6±1.5)×10-3.并由Daliz投影分布的分析,确认a1的主要衰变方式ρπ.同时,也观察到a1衰变中以S波贡献为主的现象.采用Kuhn模型拟合实验数据,得到:ma1=1.24±0.02GeV,Γa1T=0.57±0.07GeV.     

ψ(2S)的τ轻子对衰变研究

首次分析了ψ(2S)→τ⁺τ^－衰变道,给出其分支比测量结果.分析基于北京正负电子对撞机(BEPC)上北京谱仪(BES)所获取的1.27×10⁶事例,得到分支比值为(3.54±0.61±0.63)×10^－3.此值与粒子表给出的ψ(2S)其它轻子道分支比值比较,符合e-μ-τ普适性假设.利用这些数据,还计算得到ψ(2S)衰变的总宽度Γ_tot=251±37keV.     

J/ψ→π03(π+π－)分支比的测定

用BESⅠ的7.8×10⁶J/ψ数据更为精确地测定了J/ψ→π⁰3(π⁺π^－)和J/ψ→ω²(π⁺π^－)的分支比(Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(2.52±0.06±0.43)%,Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(1.31±0.09±0.21)%.同时对4π不变质量谱和ωππ不变质量谱进行研究分析,试图观察是否存在有兴趣的信号.     

e/π识别的dE/dx方法在北京谱仪τ重轻子质量测量中的应用

本文介绍了北京谱仪(BES)主漂移室(MDC)e/π识别的dE/dx方法在τ重轻子质量测量中的应用.该方法的应用使得对τ⁺τ^－衰变产生的“eμ”事例的标记效率,比仅用传统的电磁簇射信息标记时提高了3倍以上.效率的提高不仅减少了事例丢失,还使得为找到同样多的τ⁺τ^－事例所需要的谱仪和对撞机运行时间和数据离线处理所用的计算机CPU时间均减少了～75%.     

在s=4.03GeV的e+e－湮没中Ds+单标记的研究及Ds+Ds－对产生截面的测定

利用北京正负电子对撞机(BEPC)和北京谱仪(BES),基于在质心系能量s=4.03GeV的e+e–湮没中,D+s单标记的分析结果,测定了D+s→K0K+和D+s→K0K+衰变的分支比.其结果Br(D+s→K0K+)=(3.02±0.94±0.91)%,Br(D+s→K0K+)=(3.28±1.22±0.94)%与世界平均值在误差范围内一致.用π+,K0K+,K0K+作为单标记,共观测到94±13个D+s事例,测得在e+e–湮没中D+sD–s对产生的截面为σprod D+s D–s=451±63±118pb.     

τ轻子质量的精密测量

由北京正负电子对撞机(BEPC)上取得的τ轻子质量附近12个能量点的数据,筛选出τ轻子到其6个主要衰交道的事例数,用最大似然法双参数拟合得到τ轻子的质量为.与1992年的τ轻子到eμ一个衰变道的测量结果相比,增加了统计量,减小了统计误差,从而提高了精确度.     

J/ψ衰变中的ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ0产生

利用北京正负电子对撞机(BEPC)上的北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶个J/ψ事例,测量得到J/ψ→ΛΛ,ΛΛγ和ΛΛπ⁰三个衰变道的分支比分别为Br(J/ψ→ΛΛ)=(l.08±0.06±0.24)×10^－3,Br(J/ψ→ΛΛγ)－4(90% CL),和Br(J/ψ→ΛΛπ⁰)=(2.3±0.7±0.8)×l0^－4; 第一个衰变道的角分布为dN dcosθ=N₀(1+αcos²0),α=0.52±0.33±0.13.     

BES上J/ψ→γπ0π0的实验研究

基于北京谱仪收集的7.0×10⁶有中性触发的J/ψ事例,分析了J/ψ→γπ⁰π⁰衰变道.除了在π⁰π⁰不变质量谱中看到了众所周知的f₂(1270)外,还证实了f_J(1710)和ξ(2230)的存在,同时给出了它们的质量以及相应的衰变分支比.     

重味展开下的0－重介子束缚态

用瞬时近似下的Bethe-Salpeter(B-S)方程,讨论了0^－重介子束缚态.运用重味质量展开方法求解方程,计算了一级近似下D^±,D⁰,B^±,B⁰介子的质量,与实验数据和其它求解方法的计算结果作了比较.