荧光屏的铯化及其防止方法

本文给出微光管阴极工艺过程对荧光屏发光效率(简称屏效)的影响的实验结果。实验表明,铯蒸气对荧光屏的毒化(简称铯化)是屏效下降的主要原因。本文还介绍一种有效而实用的防铯化方法。     

彩色PDP中荧光粉发光色坐标的测量方法研究

等离子体显示器已成为平板显示领域主要发展方向之一。在等离子体显示器上测得的色坐标包含了两部分：一部分是荧光粉在PDP器件中发光色的色坐标，一部分是PDP工作时气体放电的色坐标。在PDP屏的制作过程中，荧光粉经历了浆料制备、干燥、烧结以及老炼等工艺过程。因此，荧光粉在PDP屏上表现出的色坐标比起荧光粉体来说会产生一些变化。本文以测量PDP中荧光粉发光色坐标为目的，提出了一种用单色PDP屏色坐标、亮度和同结构下气体放电色坐标、亮度来获得荧光粉在PDP屏中色坐标和亮度的方法，设计制作了测试PDP屏三基色荧光粉发光色坐标所用的单色试验屏。用CRT ColorAnalyzer（CA－100）时PDP屏和PDP屏上气体放电产生的亮度和色坐标都进行了测量，根据合成颜色的在刺激值与二种已知颜色的在刺激值具有线性叠加关系，计算出了荧光粉在PDP器件中的色坐标和亮度。同时，用WGD－3型组合式多功能光栅光谱仪对PDP屏和气体放电的发光光谱进行了测量，用计算机将测得的发光光谱在同波长下相减，从而获得了荧光粉在PDP中的发光光谱。结果表明绿粉和蓝粉的色坐标变化较大，而红粉变化较小，使得PDP白场色温向较低的方向变化。绿粉和蓝粉的发光谱线的半峰宽与原粉比较都有减小，峰值发光强度也减小了，绿粉的峰值发光波长从526nm变至523．4nm。     

像增强器MTF测量理想像面选择方法研究

为了能够获得准确的调制传递函数测量结果,对测量系统中投射图像的理想成像面进行选择性调节。通过对微光像增强器调制传递函数测量系统光学成像性质的深入分析,讨论了光学系统的像差特性,利用平均中点取值法实现了微光像增强器调制传递函数测量中对理想成像面的选择。通过与微光像增强器已有测量结果的对比,证明所述方法能够保证微光像增强器调制传递函数测量的准确性。     

利用等厚干涉条纹测量微光的调制传递函数MTF

通过对微光的调制传递函数 (MTF)的讨论 ,结合传统的“分辨率板法” ,提出了一种新的测量微光的MTF的方法。该方法直接从MTF的物理含义出发 ,利用迈克尔逊干涉仪产生一系列空间频率的等厚干涉条纹来模拟分辨率板的作用 ,在计算机的控制下 ,自动测量出连续的MTF曲线。给出的实验光路和实验结果表明 ,利用干涉条纹测量微光的MTF是一种可行的简便方法 ,在计算机的控制下 ,可快速完成夜视仪的传递函数测量     

微光像增强器常用荧光粉性能研究

荧光粉是微光像增强器荧光屏的关键材料,可将电子图像转换为可见光学图像,其性能对像增强器的分辨力、发光光谱、调制传递函数、余辉等性能有重要影响。针对国内外目前像增强器的发展情况,就国内外像增强器荧光屏常用的P20（（Zn,Cd）S∶Ag）、P22（ZnS∶Cu,Al）、P31（ZnS∶Cu）、P43（Gd₂O₂S∶Tb）和P45（Y₂O₂S∶Tb）开展相应的性能对比研究,分别对这5种荧光粉的物相结构、光谱特性、发光效率及分辨力等性能进行了表征,分析了不同种类荧光粉的适用条件。结果表明:这5类常用荧光粉对于像增强器的不同性能提升各有贡献,其中分辨力较高的为P43荧光粉,发光效率较高的为P22荧光粉,而人眼观测舒适度最好的则为P45荧光粉。鉴于对微光像增强器高性能的要求,在选用微光像增强器用荧光粉时可选用综合性能较为优越的P22和P43荧光粉,也可根据像增强器的具体性能要求及实际使用需求选用合适的荧光粉种类。     

几何光学实验中一现象的理论分析和验证

1引言 在用物距像距法测量凸透镜的焦距实验中,从理论上讲在不同的物距范围内,下述两种调节方法均易从像屏上得到清晰像:(1)物和透镜固定(令物距大于焦距),调节像屏成像;(2)物和像屏固定(令二者间距满足成实像的条件),调节透镜成像.     

耐湿性荧光粉和X线增感屏

稀土发光材料溴氧化镧掺铽是一种高效率X线发光材料.但其化学性质很不稳定,特别是在潮湿的空气中,易潮解而使发光效率显著降低,甚至完全丧失发光能力.因此,如何防止溴氧化镧的潮解成了这一优良新材料能否应用的关键问题.本文提出了一种制备耐湿性溴氧化镧荧光粉的新方法.用这种方法制成的LaOBr:Tb荧光粉在75℃水中浸泡105小时发光强度基本不变,这种荧光粉及其所制成的X线增感屏,在45℃饱和水蒸汽压恒温室内放置265天,发光强度和屏对x光胶片的感黑度也基本保持不变.而原来的LaOBr:Th荧光粉在70℃水中浸泡不到20分钟就发生水解变质,原来的LaOBr:Tb荧光粉及增感屏,在45℃饱和水蒸汽压恒温室中放置不到10天就发生了水解变质.     

微光管电源集成电路研制

简介三代微光管电源集成电路的工作原理和研制情况,详述电路设计、版图设计和工艺设计等研制的关键技术.研究电路性能参数对微光管电源的板压稳定性、屏压稳定性和ABC(自动亮度控制)性能的影响.比较研制电路与国外样品电路在主要电性能方面的差异及优劣.得出了研制电路完全可以取代国外电路的结论.     

光电子技术与器件 光放大、控制与器件

TN223 2006032458一种基于强迫性选择MRC测量的新方法=A novel meth-od based on forced-choice for MRC measurement[刊,中]/李升才(北京特种车辆研究所.北京(100072)) ,金伟其…∥光学技术.—2006 ,32(2) .—230-233在分析微光ICCD成像系统工作原理的基础上,研制了新型微光ICCD成像系统MRC特性测试仪。以该系统为实验装置,以Weibull心理测量方程为理论基础设计了一种选择性靶标。基于选择性靶标,提出了一种基于强迫性选择MRC测量的新方法,利用该方法对微光ICCD成像系统进行了实际测量。该方法对建立微光ICCD成像系统MRC理论…     

YAGG∶Tb纳米荧光粉的制备和分析

YAGG∶Tb微米荧光粉具有良好的发光特性,在投影电视中具有广泛的应用,在FED等新型平板显示中也有良好的应用前景。与图像清晰度有密切关系的是荧光粉的粒径大小,粒径越小分辨率越高,纳米荧光粉可提高图像的分辨率,使图像更清晰。但目前还未见有关YAGG∶Tb纳米荧光粉的报道,把这种荧光粉纳米化具有重要的实际意义。概述了用尿素溶胶法制备YAGG∶Tb纳米荧光粉,这一方法与其他的合成方法相比具有很多的优点,是一种无机合成的方法,能够得到纳米级的超细荧光粉。最后通过X射线对其进行了晶体分析,用扫描电镜进行了形貌分析,测量了在电子束激发下的发射光谱,并对实验结果进行了讨论。     

YAGG:Tb纳米荧光粉的制备和分析

YAGG：Tb微米荧光粉具有良好的发光特性,在投影电视中具有广泛的应用,在FED等新型平板显示中也有良好的应用前景。与图像清晰度有密切关系的是荧光粉的粒径大小,粒径越小分辨率越高,纳米荧光粉可提高图像的分辨率,使图像更清晰。但目前还未见有关YAGG：Tb纳米荧光粉的报道,把这种荧光粉纳米化具有重要的实际意义。概述了用尿素溶胶法制备YAGG：Tb纳米荧光粉,这一方法与其他的合成方法相比具有很多的优点,是一种无机合成的方法,能够得到纳米级的超细荧光粉。最后通过X射线对其进行了晶体分析,用扫描电镜进行了形貌分析,测量了在电子束激发下的发射光谱,并对实验结果进行了讨论。     

微光CCD象敏器特性的研究

本文对微光CCD象敏器的性能(如动态范围、信噪比、量子效率、热生背景电荷、转移效率等)进行了测量和研究。例如,测量转移效率用电注入法;采用单色光源入射到CCD象敏器上,测量量子效率。根据CCD象敏器的工作原理,设计了一套计算时沖频率φ_1、φ_2、φ_3、光柵脉冲φ_P及转移脉冲φ_X等的工作波形图,还对φ_P、φ_X波形的获得进行了分析,以达到能够对徽光CCD象敏器参数进行测量的目的。最后,对微光CCD象敏器性能参数的测量结果与理论值进行了对比。由本试验结果表明,基本上反决了微光CCD的性能,对研究CCD在微光、红外、紫外成象方面都起着有益的作用。     

阴极射线发光材料的进展

本文介绍阴极射线发光材料的一些重要特性以及最近在国外荧光粉新牌号的编排和命名。详细评论了按不同用途分类的荧光粉的最近发展,并对新发展的阴极射线发光单晶薄膜屏和阴极射线发光中的能量传递进行综述。     

阴极射线发光材料的进展

本文介绍阴极射线发光材料的一些重要特性以及最近在国外荧光粉新牌号的编排和命名。详细评论了按不同用途分类的荧光粉的最近发展,并对新发展的阴极射线发光单晶薄膜屏和阴极射线发光中的能量传递进行综述。     

一种基于强迫性选择MRC测量的新方法

与传统光电成像系统成像质量的评价方法相比,最小可分辨对比度(MRC)能够更全面地反映光电成像系统的极限性能。它考虑了系统的灵敏度、噪声、目标空间频率以及人眼视觉特性等因素对系统阈值对比度的影响,可用于光电成像系统的视距估算。在分析微光ICCD成像系统工作原理的基础上,研制了新型微光ICCD成像系统MRC特性测试仪。以该系统为实验装置、以Weibull心理测量方程为理论基础设计了一种选择性靶标。基于选择性靶标,提出了一种基于强迫性选择MRC测量的新方法,利用该方法对微光ICCD成像系统进行了实际测量。该方法对建立微光ICCD成像系统MRC理论模型具有重要的指导意义,对直视型微光成像系统MRC特性的测量具有借鉴意义,对光电成像系统成像质量的评价具有重要的使用价值。     

球面波导短程透镜的球差

本文是对球面波导短程透镜球差的初步研究,报道一种测量球差的方法,对玻璃波导球面短程透镜的球差实验测量表明,测量结果与理论预计基本相符。     

一种球面透镜波前畸变的绝对检测方法

球面透镜的透射波前畸变是影响激光驱动器光束质量的重要参数。采用移相干涉仪检测球面透镜波前畸变时,测量结果的精度受限于标准球面镜头和后置平面反射镜的精度。然而,现有的绝对检测技术仅适用于反射元件。为了满足球面透镜波前畸变的高精度检测需求,提出了一种适用于球面透镜透射波前的绝对检测方法:三位置 平移相减法。详细介绍了三位置 平移相减法的原理,对其进行了模拟仿真和实验验证。仿真结果显示:三位置 平移相减法的仿真误差为10 nm~13 nm,达到高精度测量的理论要求;实验结果表明:三位置 平移相减法可以有效地减小前标准球面镜头和后置平面反射镜对测量结果的影响,该方法对球面透镜的加工和装调具有很好的指导意义。     

微通道板真空体电阻与Ⅱ代倒象微光管匹配关系的研究

国内研制的20/30Ⅱ代倒象微光管经常出现微通道板真空体电阻偏高或偏低的问题,直接影响Ⅱ代倒象微光管荧光屏的亮度和目标分辨力,严重影响微光管的质量。经过对20/30Ⅱ代倒象微光管的研制和理论分析,证明英国马拉德公司对用于××1383Ⅱ代倒象微光管的H36微通道板技术条件中真空体电阻技术指标的规定也存在一定的问题。本文从目前国内外工艺水平和有关文献资料的分析出发,进行专题研究。本文中所推导的计算公式和对文献资料提供的技术数据的推导分析,同样适用于其他型号微通道板的真空体电阻与相应Ⅱ代、Ⅲ代微光管匹配关系的计算与研究。     

彩色PDP荧光粉的劣化研究

彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一， 荧光粉对PDP器件的性能起着决定的作用。PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的。荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中，以及制成PDP器件的过程中，都可能使荧光粉的性能降低，这就是工序劣化。在制成PDP器件后，荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低，这就是历时劣化。本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因，设计制作了单色PDP试验屏，采用CRT ColorAnalyzer（CA－100）测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标，并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较，从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值。试验结果表明，绿粉（Zn2SiO4:Mn^2 ）和蓝粉（BaMgAl10O17:Eu^2 ）的工序劣化较严重，蓝粉的历时劣化最严重，其y坐标增大10％，x坐标增大5％。我们认为改进荧光粉浆料成份和配比，从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒，有助于改善工序劣化；改进MgO的性能，提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击，将有助于改善历时劣化。     

一种光增益稳定性能优良的小型高压电源

一、前言近年来,二代微光夜视技术在国内外发展很快,已有多种产品出售并被广泛应用。小型高压电源是微光管核心器件之一,要求其体积小、功耗低,功能齐全,性能优良及通用性广等。本文介绍了一种光增益稳定、性能优良、稳压范围很宽的二代微光管小型高压电源。