一种基于强迫性选择MRC测量的新方法

与传统光电成像系统成像质量的评价方法相比,最小可分辨对比度(MRC)能够更全面地反映光电成像系统的极限性能。它考虑了系统的灵敏度、噪声、目标空间频率以及人眼视觉特性等因素对系统阈值对比度的影响,可用于光电成像系统的视距估算。在分析微光ICCD成像系统工作原理的基础上,研制了新型微光ICCD成像系统MRC特性测试仪。以该系统为实验装置、以Weibull心理测量方程为理论基础设计了一种选择性靶标。基于选择性靶标,提出了一种基于强迫性选择MRC测量的新方法,利用该方法对微光ICCD成像系统进行了实际测量。该方法对建立微光ICCD成像系统MRC理论模型具有重要的指导意义,对直视型微光成像系统MRC特性的测量具有借鉴意义,对光电成像系统成像质量的评价具有重要的使用价值。     

基于测量最小可分辨对比度的CCD相机成像质量的评价

针对评价CCD相机成像质量MTF方法的缺点,引入了最小可分辨对比度MRC这个评价指标,并研制了相应测量MRC的系统.在这个系统中采用两个重叠积分球分别对靶标的正反两面照明,通过改变这两个积分球的亮度就可以获得可变的对比度.实验结果表明：测量MRC系统测量亮度的误差可控制在±0.3cd/m2以内; CCD相机的MRC随着空间频率的增加而增加;测量CCD相机的MRC是评价CCD相机成像质量的一种快速有效的方法.     

基于人眼视觉的直视型微光成像系统MRC模型

首次将最小可分辨对比度(MRC)的概念引入到了直视型微光成像系统。在人眼视觉的基础上,从信号检测的角度出发,推导出了直视型微光成像系统的MRC模型。该模型综合考虑了空间因素和时间因素对成像系统的影响,给出了系统在不同目标照度、不同对比度情况下探测图像时的极限灵敏阈。模拟结果表明,由此得到的直视型微光成像系统的极限分辨率与实际系统给出的分辨率基本一致,是一种能更全面地评价微光成像系统性能的模型。     

直视型微光夜视系统最小可分辨对比度模型

从信号检测和人眼视觉角度出发,研究了直视微光夜视系统综合性能评估理论,推导出直视型微光成像系统的MRC（最小可分辨对比度）模型。该模型将光学传递特性与系统信噪比结合,建立了系统直视微光夜视MRC与目标特性、直视微光夜视仪以及人眼各部分参数之间的数学关系。验证结果表明,由该模型得到的系统极限分辨率相较于系统实际测出的分辨率相对误差为3.08%。     

像增强器MTF测量理想像面选择方法研究

为了能够获得准确的调制传递函数测量结果,对测量系统中投射图像的理想成像面进行选择性调节。通过对微光像增强器调制传递函数测量系统光学成像性质的深入分析,讨论了光学系统的像差特性,利用平均中点取值法实现了微光像增强器调制传递函数测量中对理想成像面的选择。通过与微光像增强器已有测量结果的对比,证明所述方法能够保证微光像增强器调制传递函数测量的准确性。     

微光大视场测量系统光机分系统研制

介绍一种用于夜间对空间弱小目标进行捕获、测量的微光大视场测量仪.它能对暗背景下的各种几何图像,包括星点像的几何位置关系提供较高精度测量,并能实时输出所需结果.微光光学成像系统是该测量系统的重要组成部分,如何优化设计成像系统和合理选择相关微光像增强器是系统设计的关键.     

一种基于工业级CCD器件的高性能制冷CCD成像组件

随着CCD器件的发展,采用工业级CCD器件研制高性能制冷CCD成像系统成为一个重要的发展方向。从高性能CCD成像和高性能微光ICCD成像应用需求出发,研制了一种基于工业级CCD器件的高性能制冷型数字视频CCD成像组件;介绍了成像组件在高性能大面阵CCD器件、低噪声驱动电路、小型化低功耗制冷技术以及特殊的制冷腔结构等方面的设计特点,指出成像组件对进一步发展高性能CCD成像系统具有积极的促进作用,在军事、工业、生物医学和科学研究领域具有广泛的应用前景。     

微光ICCD电视摄像技术的发展与性能评价

利用微光像增强器的图像增强功能,将微光像增强管耦合到电荷耦合器件(CCD)上即构成微光图像增强CCD(简称ICCD)。它具有两个重要的特性:一是通过选择适当的像管输入窗及光电阴极,使ICCD光谱响应范围由可见光扩展到X射线、紫外、近红外区域,从而使该器件能适用于各种用途;二是使ICCD的灵敏度达到10-4lx以下,实现了ICCD摄像器件在黎明或黄昏的照度下(102lx)在1/4月光下(10-2lx)、在星光下(10-4lx)都能有效的工作。微光ICCD电视摄像系统可应用在天文、医疗、火控、制导、飞机紫外预警等方面。重点阐述了微光ICCD电视摄像技术的发展与性能评价。     

光放大、控制与器件

TN144 2004064395 微光像增强器的进展及分代方法=Image intensifier’s progress and division of generations[刊,中]/金伟其(北京理工大学信息科学技术学院光电工程系.北京(100081)),刘广荣…∥光学技术.—2004,30(4).—460-463,466 介绍了微光像增强器的主要性能指标及其对系统成像的影响。分析了像增强器按技术分代和按性能水平分代的方法。针对欧洲的超二代以及美国的三代/超三代像增强器的主要技术指标,说明了按性能分代的合理性。结果表明,这种分代方法在军用和民用领域的应用中对     

光电子技术与器件 光放大、控制与器件

TN144 2005053743 ICCD系统中对像增强器制冷降噪效果的分析=Research of reducing the ICCD system noise with TE cooler[刊, 中]／沈飞(北京理工大学光电工程系．北京(100081)),刘 广荣…∥光学技术．-2005,31(3)．-434-436,440 在ICCD摄像机上加装一个半导体制冷器,对像增强 器进行实时降温处理,以降低系统时空域噪声。为了评价 半导体制冷器对ICCD系统噪声的影响,运用三维噪声模 型对制冷前后系统的时空域噪声和信噪比进行了分析,发 现半导体制冷器能够有效地降低像管的噪声。图3表2 参11(王淑平)     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TN386.52006010552大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术研究=Re-search on measuring technique for i mage sensors′uniformi-ty of the CCDi mage-forming system with large-field angle[刊,中]/张鑫(北京理工大学信息科学技术学院光电工程系.北京(100081)),林家明…∥光学技术.—2005,31(6).—846-848,853以光度学为理论基础,研究了大视场CCD成像系统像面均匀性测试技术。论述了600~800mm非对称、双半球不等半径积分球的设计方案。对像面均匀性测试系统的积分球出口进行了测试,出口处的照度不均匀性不高于2.3%,照度不稳定性不高…     

光电子技术与器件 射线探测技术与装置

TH878 2006032495锥束射线三维大视场工业CT成像方法研究=Research oncone-beamray three di mensional large field for viewindus-trial CTi maging method[刊,中]/傅健(北京航空航天大学机械工程及自动化学院.北京(100083)) ,路宏年…∥光学技术.—2006 ,32(2) .—209-212为解决较大尺寸构件3D-ICT的检测问题,讨论了一种仅需旋转检台偏置的大视场3D-ICT成像方法,推导了基于FDK原理的滤波反投影(filter back-projection,FBP)重建算法。计算机模拟和实验结果证明了该技术的正确性。分析表明,其水平方向的有效扫描视野比基于FDK的…     

激光器件 激光参数测量

TN247 2005042570 一种实时测量入射激光波长及方位的新方法=A new method of measuring laser wavelength and incident orienta- tion in real-time[刊,中]／王挺峰(中科院长春光机所,吉林,长春(130033)),付有余…／／光学技术,-2005,31 (1),-81-83 提出了一种利用CCD和光栅实时测量入射激光波长及方位的新方法。该方法利用成像CCD,通过测量入射激光成像点在电视成像坐标系中的位置来确定激光的入射方位;根据光学系统中成像点位置与光栅入射角和衍射角     

光电成像与器件

TH703 2004064381 光学合成孔径成像技术计算机仿真与实验验证=Computer simulation and experimental verification for optical synthetic aperture imaging technology[刊,中]/王治乐(哈尔滨工业大学空间光学工程研究中心.黑龙江,哈尔滨(150001)),龙夫年…∥光学技术.—2004,30(4).—502-504,507 阐明了光学合成孔径成像系统的原理。合成孔径成像系统在获得高截止频率的同时,降低了系统的中频性能,并且合成孔径成像系统的信息获取在方向上具有可选择性。对合成孔径成像系统的点扩散函数和光学传递函数进行了计算机仿真,仿真结果与合成孔径系统的成像原理一致。最后通过对辐射靶标的成像实验,再次对合成孔径成像系统的特性进行了验证。图13参4(严寒)     

兆线元EBCCD微光探测系统

研发了一种兆线元EBCCD微光探测系统。该系统采用了俄罗斯生产的电子轰击CCD传感器,该传感器为倒像式静电聚焦系统,CCD为背照式1000×1000像元,传输模式为帧传输。为了获得高质量的图像,采用了多重滤波、自动去背景噪声以及帧叠加的方法。该系统能在10-5lx照度条件下得到较好的视频信号。该系统具有很高的灵敏度和分辨力,与ICCD微光摄像机作了比较。结果表明,电子轰击CCD微光成像系统性能较为理想。     

光显示与显示器件

TN27 2004064391 图像显示系统几何畸变的测量及校正=Detection and correction of geometric distortion in image displaying system[刊,中]/关英姿(哈尔滨工业大学航天工程与力学系.黑龙江,哈尔滨(150001)),康为民…∥光学技术.—2004,30(4).—423-424,430 为了保证图像显示系统能够产生120°的大视场,在系统中使用了超广角耦合物镜,这样就不可避免地存在几何畸变。提出了一种基于点物成像原理,并采用数码相机和精密单轴转台进行畸变测量的方法,介绍了测量原理和测量过程,根据测量后得到的畸变规律,采用数字图像处理的方法对几何畸变进行了校正。校正后,图像显示系统的畸变小于0.4％,完全能够满足导弹景象匹配系统定位误差及定位概率的检测要求。图2表2参2(严寒)     

光电子技术与器件 光放大、控制与器件

TN1442006054500对三代微光管光谱响应的测试分析=Spectral responsemeasurement and analysis of third-generation LLL tube[刊,中]/杜玉杰(滨州学院物理科学与工程系.山东,滨州(256600)),纪延俊…//光学技术.—2006,32(3).—364-366利用自行研制的光谱响应测试仪对国产三代微光管进行了光谱响应测试,给出了三代微光管的光谱响应特性,利用曲线拟合方法估算了GaAs光电阴极材料的性能参数。结果显示该三代微光管的积分灵敏度约800μA/lm左右,所选GaAs材料的电子扩散长度为2.0μm,与1.6μm的阴极厚度相当,电子表面逸出几率为0.38,后界面…     

光电子技术与器件 红外技术与器件

TJ765.3 2006032463基于PCI总线的位标器陀螺转子实时数据采集系统=Re-al ti me data acquisition systemof the coordinator gyrorotorbased on PCI bus[刊,中]/陈琛(华中科技大学光电子工程系.湖北,武汉(430074)) ,刘小英…∥红外技术.—2006 ,28(1) .—23-25介绍了一种运用相位法测量扫描圆直径的数字测试方法。详细阐述了基于PCI总线的实时数据采集系统如何实现对扫描圆的数字化测量,包括系统的硬件与软件设计,并对测试结果进行了分析。图6参3(严寒)TJ765.5 2006032464红外隐身原理及发展=Principle and development of infra-red…     

光电子技术与器件 光电成像与器件

TN386.5 2006043423光锥与CCD耦合系统中基于算子融合的自动对焦方法=Auto-focusing method based on operator fusion in systemfor coupling optical-taper with CCD[刊,中]/张宏建(中科院西安光机所瞬态光学与光子技术国家重点实验室,信息光子学研究室.陕西,西安(710068)) ,田维坚…∥光子学报.—2006 ,35(4) .—635-637提出了一种基于自动对焦方法的光锥与CCD耦合系统,并采用算子融合技术,给出了一种新的基于空域分析的像质评价函数。经实验证明,该方法既有效地提高了算法的可靠性,又实现了较高的对焦准确度,较好地解决了在耦合过…     

光电子技术与器件 光调制与器件

TN761 2006032404LiNbO3电光调制器的小信号功率测试法研究=Measure-ment of Li NbO3modulator frequency response using small-signal power measuring technique[刊,中]/黄亨沛(中科院半导体所集成光电子学国家重点实验室.北京(100083)) ,伞海生…∥光电子·激光.—2006 ,17(1) .—37-40阐述了小信号功率测试法测量Li NbO3电光调制器频率响应的原因,对传统的小信号功率测试法加以改进,在以网络分析仪(VNA)为主的常用扫频测试系统基础上建立起一套简单可靠的新型测试系统,实现了计算机控制自动测量。改进的测试方法考虑了测试系统中…