一种课堂教学CAI新模式——仓储式多媒体CAI系统

近年来，各种CAI课件、软件或资料大量涌现，关于CAI的论文或报导更是花样翻新、层出不穷，传统的课堂教学模式正面临着严峻的挑战，看来在课堂中使用CAI已是时代的要求，势在必行。     

彩色PDP荧光粉的劣化研究

彩色等离子体平板显示器件已经成为信息显示领域重要发展方向之一， 荧光粉对PDP器件的性能起着决定的作用。PDP中的荧光粉是通过丝网印刷的方法涂敷的。荧光粉在制成丝网印刷用荧光粉浆料过程中，以及制成PDP器件的过程中，都可能使荧光粉的性能降低，这就是工序劣化。在制成PDP器件后，荧光粉的性能还会随着使用时间的延长进一步降低，这就是历时劣化。本文分析了荧光粉的工序劣化和历时劣化产生的原因，设计制作了单色PDP试验屏，采用CRT ColorAnalyzer（CA－100）测量了荧光粉在PDP器件中的色坐标，并与荧光粉生产厂家提供的色坐标进行比较，从而获得了荧光粉的工序劣化和历时劣化值。试验结果表明，绿粉（Zn2SiO4:Mn^2 ）和蓝粉（BaMgAl10O17:Eu^2 ）的工序劣化较严重，蓝粉的历时劣化最严重，其y坐标增大10％，x坐标增大5％。我们认为改进荧光粉浆料成份和配比，从而降低荧光粉的烧结温度以及采用比表面积大的荧光粉颗粒，有助于改善工序劣化；改进MgO的性能，提高其溅射能力以及采用新的驱动方法以避免荧光粉遭受离子轰击，将有助于改善历时劣化。     

彩色PDP中荧光粉发光色坐标的测量方法研究

等离子体显示器已成为平板显示领域主要发展方向之一。在等离子体显示器上测得的色坐标包含了两部分：一部分是荧光粉在PDP器件中发光色的色坐标，一部分是PDP工作时气体放电的色坐标。在PDP屏的制作过程中，荧光粉经历了浆料制备、干燥、烧结以及老炼等工艺过程。因此，荧光粉在PDP屏上表现出的色坐标比起荧光粉体来说会产生一些变化。本文以测量PDP中荧光粉发光色坐标为目的，提出了一种用单色PDP屏色坐标、亮度和同结构下气体放电色坐标、亮度来获得荧光粉在PDP屏中色坐标和亮度的方法，设计制作了测试PDP屏三基色荧光粉发光色坐标所用的单色试验屏。用CRT ColorAnalyzer（CA－100）时PDP屏和PDP屏上气体放电产生的亮度和色坐标都进行了测量，根据合成颜色的在刺激值与二种已知颜色的在刺激值具有线性叠加关系，计算出了荧光粉在PDP器件中的色坐标和亮度。同时，用WGD－3型组合式多功能光栅光谱仪对PDP屏和气体放电的发光光谱进行了测量，用计算机将测得的发光光谱在同波长下相减，从而获得了荧光粉在PDP中的发光光谱。结果表明绿粉和蓝粉的色坐标变化较大，而红粉变化较小，使得PDP白场色温向较低的方向变化。绿粉和蓝粉的发光谱线的半峰宽与原粉比较都有减小，峰值发光强度也减小了，绿粉的峰值发光波长从526nm变至523．4nm。     

振镜扫描光学多道谱仪

以平面光栅单色仪和光学扫描振镜为基础研制一套具有高时间分辨能力的光学多道分析系统,并利用计算机进行实时控制与数据采集。实验表明：本系统在保持谱分辨的同时,时间分辨率达到１０ｍｓ以内。     

具有极性大侧基乙烯基聚合物的分子尺寸和均方二极矩

基于旋转异构态模型和生成矩阵代数方法,重新推导了大侧基聚合物均方回转半径和均方二极矩等基础量公式,应用于对聚乙烯咔唑（PVK）、聚对氯苯乙烯（PPCS）、聚乙烯砒啶（P2VP）和聚乙烯砒咯烷酮（PVP）链构象-构型依赖性质的研究.计算得到其无规链的均方二极矩特征比分别为0.55、0.57、0.48和0.37,均方回转半径特征比分别为2.07、1.74、1.11和1.52,全同链温度系数在？6.1×10？3～2.1×10？3K？1之间,范围比间同和无规链大.比较各特征比变化曲线规律,发现PPCS、PVP和P2VP的基础量分别受聚合物聚合度、规整程度和构象能的影响相对比较明显,而大侧基使PVK的均方二极矩和均方回转半径特征差异显著;对照改进的计算结果表明,在计算均方二极矩和回转半径时考虑极性侧基的方向和尺寸是十分重要的,在聚合物极性和柔性分析中不能忽略极性大侧基的影响.