矿物效应对X射线荧光光谱法测定冰晶石组分的影响

冰晶石是铝冶炼的主要原料,冰晶石中F、Al、Na是主成分,SiO2、Fe2O3、SO3、CaO、P2O5是主要杂质成分.长期以来,冰晶石中的主次量元素的测定常采用蒸馏-容量法、分光光度法和原子吸收光谱法[1]等传统的化学分析方法,文献[1, 2]采用粉末压片X射线荧光光谱法测定冰晶石中硫含量作为行业标准和国际标准发布,其校准曲线采用光谱纯冰晶石和高纯硫酸盐来配制标准样品,而且只能测量1个组分.在起草XRF法测定冰晶石组分行业标准分析方法时,对XRF法测定冰晶石组分作了研究.     

X射线荧光光谱法测定不同类型分子筛中氧化物的含量

分子筛是催化裂化催化剂中重要的活性组分.产品中Na2O、Al2O3、SiO2、RE2O3,等元素氧化物的含量将直接影响分子筛的质量和性能.通过对方法准确度和精密度的考察,表明X射线荧光光谱法(XRF)测定分子筛中重要元素氧化物的含量,准确度高,重复性好,是一种高效、快速、能有效指导企业生产的分析方法.     

火焰原子吸收光谱法测定矿石中微量钼

矿石中钼的测定方法有分光光度法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法和X射线荧光光谱法等[1-4]。在这些方法中用常规的火焰原子吸收光谱法测定矿石中钼,由于钼很难被原子化,测定灵敏度很低,且地质样品中共存元素的干扰非常严重[5],一般很难测定。本工作用4种酸溶解     

锆基合金中元素分析方法的研究进展

综述了近年来原子发射光谱法、原子吸收光谱法、分光光度法、滴定法、X射线荧光光谱法和质谱法等测定锆基合金中相关元素的分析方法及研究进展(引用文献64篇)。     

地质样品中总锡测定方法的研究进展

综述了地质样品中总锡分析方法(包括容量法、分光光度法、氢化物发生-原子荧光光谱法、原子吸收光谱法、极谱法、原子发射光谱法、电感耦合等离子体原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法、X射线荧光光谱法)的研究进展。     

钛基材料中元素分析方法研究进展

综述了钛基材料中组分元素测定方法的近年研究进展情况,涉及分析方法有原子发射光谱法、原子吸收光谱法、分光光度法、滴定法、X射线荧光光谱法、质谱法、红外/热导法等(引用文献73篇)。     

程序控温消解-原子吸收光谱法分析土壤中的铅、镉、镍和铬

1引言近年来由于工业的快速发展和环保意识的缺失,占全国农田总数1/6的耕地受到不同程度的重金属污染。因此,准确测定土壤中的重金属,对指导土壤的重金属修复将起到积极作用。土壤中重金属的仪器分析方法主要包括X射线荧光光谱法[1]、原子发射光谱法[2]、原子吸收光谱法[3]以及电感耦合等离子体质谱法[4]。目前,适合于原子吸收光谱法的土     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF_2、CaCO_3、S、Fe及SiO_2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2

X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF_2及CaCO_3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO_2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%(RSD,n=10),能满足萤石中各元素的检测要求。     

混合稀土氧化物的X射线荧光光谱分析

X射线荧光光谱法测定稀土冶金中间产品中常量稀土元素,国内外已有不少报导。本工作系统地考察了钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、镱、和钇等元素间的相互干扰;试样的制备及基体效应的校正,用P_(851)小型计算机所带的通用软件,对谱线间的干扰进行校正。拟定了混合稀土氧化物中上述10种稀土元素氧化物的X射线荧光光谱测定方法。四个样品以本法分析需要2小时左右。除低含量钬(<3%)以外,方法的精密度及准确度良好。