| 矿物效应对X射线荧光光谱法测定冰晶石组分的影响 |
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| 引用本文： | 张爱芬,马慧侠,李波.矿物效应对X射线荧光光谱法测定冰晶石组分的影响[J].分析测试学报,2006,25(Z1):65-67. |
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| 作者姓名： | 张爱芬 马慧侠 李波 |
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| 作者单位： | 中国铝业股份有限公司郑州研究院,河南,郑州,450041 |
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| 摘 要： | 冰晶石是铝冶炼的主要原料,冰晶石中F、Al、Na是主成分,SiO2、Fe2O3、SO3、CaO、P2O5是主要杂质成分.长期以来,冰晶石中的主次量元素的测定常采用蒸馏-容量法、分光光度法和原子吸收光谱法1]等传统的化学分析方法,文献1, 2]采用粉末压片X射线荧光光谱法测定冰晶石中硫含量作为行业标准和国际标准发布,其校准曲线采用光谱纯冰晶石和高纯硫酸盐来配制标准样品,而且只能测量1个组分.在起草XRF法测定冰晶石组分行业标准分析方法时,对XRF法测定冰晶石组分作了研究.
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Effect of Phases for Determination Major and Minor Elements in Cryolite by XRF Spectrometry |
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| ZHANG Ai-fen,MA Hui-xia,LI Bo.Effect of Phases for Determination Major and Minor Elements in Cryolite by XRF Spectrometry[J].Journal of Instrumental Analysis,2006,25(Z1):65-67. |
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| Authors: | ZHANG Ai-fen MA Hui-xia LI Bo |
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