＝4．03GeV下τ~±→π~＋π~－π~±υ_τ衰变的测量

利用北京谱仪（ＢＥＳ）在４．０３ＧｅＶ正负电子对撞能量下获取的数据，［研究了，τ＋τ－产生过程．借助双标记方法分析了τ±→π＋π－π±υτ衰变事例．测定分支比Ｂｒ（τ±→ａ１±υτ→ρ０π±υτ，ρ０→π＋π－＝（７．３±０．５）％，Ｂｒ（τ±→Ｋ＊±υτ→Ｋｓ０π±υτ，Ｋｓ０→π＋π－）＝（０．６±１．５）×１０－３．并由Ｄａｌｉｚ投影分布的分析，确认ａ１的主要衰变方式ρπ．同时，也观察到ａ１衰变中以Ｓ波贡献为主的现象．采用Ｋｕｈｎ模型拟合实验数据，得到：ｍａ１＝１．２４±０．０２ＧｅＶ，Γａ１Ｔ＝０．５７±０．０７ＧｅＶ．     

北京谱仪上J/ψ→γπ~0、γη、γη—'→3γ衰变道的分支比测量

分析Ｊ／ψ衰变终态为三个光子的衰变道，测量得到了衰变道Ｊ／ψ→γπ０和Ｊ／ψ→γη’的分支比分别为Ｂｒ（Ｊ／ψ→γπ０）＝（４．６±１．１）×１０－５和Ｂｒ（Ｊ／ψ→ッη＇）＝（４．１２±０．８２）×１０－３；相对分支比Ｆ（Ｊ／ψ→γη’）／Ｆ（Ｊ／ψ→γη）＝４．７９±０．８５，在实验误差范围内与两个理论模型的预言都能一致。     

粲夸克偶素P波态χ_（c0）宽度测量

利用北京谱仪在北京正负电子对撞机上采集的３５０万（２Ｓ）事例，通过（２Ｓ）→γπ－和γＫ＋Ｋ－反应道测量了Ｘｃ０的总宽度．由ＭｏｎｔｅＣａｒｌｏ模拟给出的质量分辨函数，利用拟合Ｘｃ２谱形得到的质量分辨作标定后，用于Ｘｃ０宽度的拟合，得到Ｘｃ０的宽度为（１５．０）ＭｅＶ．同时定出了ＸｃＪ（Ｊ＝０，２）到π＋π＝和Ｋ＋Ｋ－的衰变分支比．结果为Ｂ（Ｘｃ０→π＋π－）＝（４．２７±０．２３±Ｏ．６０）×１０－３；Ｂ（Ｘｃ０→Ｋ＋Ｋ－）＝（３．４４±０．２１±０．４７×１０－３；Ｂ（Ｘｃ２→π＋π－）＝（１．５２±０．１７±０．２９）×１０－３和Ｂ（Ｘｃ２→Ｋ＋Ｋ－）＝（５．２±１．１±１．８）×１０－４，其中第一项误差为统计误差，第二项为系统误差。     

关于l／η（1440）的结构分析

本文通过对Ｊ／ψ辐射衰变到Ｋ＋Ｋ－πＯ和终态中ｉｏｔａ能区的振幅分析，发现ｉｏｔａ峰下有一个０－＋共振态（Ｍ＝１４６７±３ＭｅＶ，＝８９±６ＭｅＶ）和两个１＋＋共振态（Ｍ＝１４３５±３ＭｅＶ，＝５９±５ＭｅＶ；Ｍ＝１４９７±２ＭｅＶ，＝４４±７ＭｅＶ），分别对应于η（１４４０），ｆ１（１４２０）和ｆ１（１５１０）．     

由ψ(2S)→π+π－J/ψ道测量J/ψ轻子道衰变分支比

利用北京谱仪(BES)上取得的ψ(2S)数据,对ψ(2S)→π⁺π^－J/ψ,J/ψ→1⁺1^－和J/ψ→任意末态两个过程进行了细致的研究,得到J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→e⁺e^－)=(5.90±0.07±0.16)%和B(J/ψ→μ⁺μ^－)=(5.96±0.08±0.16)%,由此给出Be/Bμ的值为0.990±0.018±0.024.假定Be=Bμ,J/ψ的轻子道衰变分支比为B(J/ψ→1⁺1^－)=(5.93±0.05±0.16)%.上述结果可用来估计强相互作用耦合常数αs和QCD减除参数∧.     

一个可能的新共振态──J／ψ→X＋f_0（975）过程中玻色共振态X的自旋－宇称分析

在Ｊ／ψ强子衰变过程中，伴随ｆ０（９７５）产生的玻色共振态Ｘ，若衰变为一对正反赝标介子，它的自旋－宇称只能是产ＪＰＣ＝（奇）－－．这里给出了过程的角分布螺旋度形式，并就如何确认Ｘ为１－－或３－－介子作了讨论．认为北京谱仪在Ｋ＋Ｋ－π＋π－四叉道中见到的反冲ｆ０（９７５）的共振态Ｘ１（１５７３）是一个可能的新共振态．     

用推广的矩分析方法确定J／ψ→X十f_0（980）中玻色共振态X的自旋─宇称

用推广的矩分析方法讨论了过程Ｊ／ψ→Ｘ＋ｆ０（９８０），Ｘ→Ｋ＋Ｋ－，ｆ０（９８０）→π＋π－。利用得到的矩表达式，可以确定玻色共振态Ｘ的自旋－宇称．     

J/Ψ衰变中的∧,∧γ和∧π~0产生

利用北京正负电子对撞机（ＢＥＰＣ）上的北京谱仪（ＢＥＳ）收集的７．８×１０６个Ｊ／事例，测量得到Ｊ／－Ａ，ＡＡｖ和八八三个衰变道的分支比分别为Ｂｒ（Ｊ／一Ａ八）：（ｌ．０８：：０．０６：：０．２４）ｘ１０－ａ，（ＶＡＡＮ＜ｌ．６ｘｌ０－‘（９０％Ｃｕ，和＆（Ｕ’）＝（２３ｌ０．７ｌｌ０．８）ｌ１０－ｔ：第一个衰变道的角分布为：（１、ａｃｏｓ‘０），ａ＝０．５２０．３３０．１３。     

e~＋＋e~－→J／ψ→V＋X，X→3P过程的角分布螺旋度形式

本文给出了过程ｅ＋＋ｅ－→Ｊ／ψ→Ｖ＋Ｘ，Ｘ、Ｐ１＋Ｐ２＋Ｐ３（Ｖ和Ｐｉ分别代表矢量介子和赝标介子）的角分布螺旋度形式，为确定上述过程中间态Ｘ的自旋和宇称提供了理论公式．     

对过程e~＋e~－→J／ψ→γ＋X（J~（PC），X→BB（重子，反重子）的角分布和共振态X的自旋－宇称分析

用螺旋度角分布方法对过程ｅ＋ｅ－～Ｊ／ψ→γ＋Ｘ（ＪＰＣ）→ＢＢ（重子，反重子）进行了分析，得到了Ｘ具有不同自旋─—宇称时角分布及投影角分布的形式，从而可以通过对实验数据的分析来确定共振态Ｘ的自旋性质．     

J/ψ→γγV(ρ,φ)衰变的实验研究

利用北京谱仪(BES)收集的7.8×10⁶ J/ψ事例,对J/ψ→γγV(ρ,φ)衰变道中的η(1430)共振态进行了分析.从J/ψ→γγρ衰变模式得到其质量及衰变宽度分别为1431±17MeV和88±28MeV,衰变分支比Br(J/ψ→γη(1430))Br(η(1430)→γρ)=(1.1±0.5±0.3)×10^－4;而从J/ψ→γγφ衰变模式得到其质量及衰变宽度分别为1424±15MeV和73±58MeV,衰变分支比Br(J/ψ→γη(1430))Br(η(1430)→γφ)=(2.0±1.0±0.6)×10^－4.     

北京谱仪上J/ψ→γπ0、γη、γη'→3γ衰变道的分支比测量

分析J/ψ衰变终态为三个光子的衰变道,测量得到了衰变道J/ψ→γπ⁰和J/ψ→γη’的分支比分别为Br(J/ψ→γπ⁰)=(4.6±1.1)×10^－5和Br(J/ψ→、η＇)=(4.12±0.82)×10^－3;相对分支比F(J/ψ→γη’)/F(J/ψ→γη)=4.79±0.85,在实验误差范围内与两个理论模型的预言都能一致.     

1.30μm／1.55μm SiGe多模干涉滤波器

用多模干涉原理分析和设计了光通信波长（１．３０μｍ～１．５５μｍ）的Ｓｉ１－ｘＧｅｘ／Ｓｉ滤波器，并用模的传播分析方法对其传输特性进行了研究。结果发现，在Ｇｅ含量ｘ＝０．０４时，干涉区的脊高和宽度分别为６．３５μｍ和８μｍ。如果多模干涉区长度ＬＭ＝２３０２．５μｍ，可滤１．３０μｍ而通１．５５μｍ的波长。且具有３１ｄＢ的对比度和０．０１ｄＢ的插入损耗；如果多模干涉区长度ＬＭ＝２５１２．５μｍ，可滤１．５５μｍ而通１．３０μｍ的波长。具有１６ｄＢ的对比度和０．０９ｄＢ的插入损耗。     

J/ψ→π03(π+π－)分支比的测定

用BESⅠ的7.8×10⁶J/ψ数据更为精确地测定了J/ψ→π⁰3(π⁺π^－)和J/ψ→ω²(π⁺π^－)的分支比(Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(2.52±0.06±0.43)%,Br(J/ψ→π⁰3(π⁺π^－))=(1.31±0.09±0.21)%.同时对4π不变质量谱和ωππ不变质量谱进行研究分析,试图观察是否存在有兴趣的信号.     

1.55μmSi1—xGex光波导在Si1—xGex／Si多量子阱探测器集成的优…

对１。５５μｍ波长的Ｓｉ１－ｘＧｅｘ光波导和Ｓｉ１－ｘＧｅｘ／Ｓｉ多量子阱红外探测器的集成器件结构进行了系统的分析和优化设计。优化结果为：１）对Ｓｉ１－ｘＧｅｘ光波导，Ｇｅ含量ｘ＝０．０５，脊宽，高和腐蚀深度分别为８，３和２．６μｍ，２）对ＳＩ１－ｘＧｅｘ／Ｓｉ多量子阱红外探测器，Ｇｅ含量ｘ＝０．５，探测器由厚度为５５０ｎｍ，２３个周期的６ｎｍＳｉ０．５ＧＥ０．５＋１８ｎｍＳｉ组成，长度约２ｍｍ。     

过程e~＋e~－→J／ψ→V＋X（J~（PC）），X→3P的矩分析

用推广的矩分析方法对过程ｅ＋ｅ－→Ｊ／ψ→Ｖ＋Ｘ（ＪＰＣ），Ｘ（ＪＰＣ）→３Ｐ进行了研究，着重讨论了多态耦合的共振峰复杂结构，并由此得到了一些矩的关系式．利用这些关系式，可以通过对实验数据的分析来确定宽共振峰的耦合模式，进而确定它们的质量，宽度，自旋等重要性质。     

J/ψ→π~03(π~+π~-)分支比的测定

用BESⅠ的 7.8× 1 0 6 J/ ψ数据更为精确地测定了J/ ψ→π0 3 (π+π- )和J/ ψ→ω2 (π+π- )的分支比 (Br(J/ ψ→π0 3 (π+π- ) ) =( 2 .52± 0 .0 6± 0 .4 3 ) % ,Br(J/ ψ→ω2 (π+π- ) ) =( 1 .3 1± 0 .0 9± 0 .2 1 ) % .同时对 4π不变质量谱和ωππ不变质量谱进行研究分析 ,试图观察是否存在有兴趣的信号 .     

23Al的β+延发质子测量

利用ＴＯＦ－ Ｅ和０°注入探测器的方法,鉴别并测量了２３Ａｌβ＋延发质子衰变能谱,通过精密脉冲发生器和计数器测得２３Ａｌ的半衰期 Ｔ１／２＝（４７６±４５）ｍｓ．实验中重现了能量为０．２１６,０．２７８,０．４３８,０．４７９ＭｅＶ的低能衰变质子．另外,还观察到了一个新的β＋延发衰变能级 Ｅｘ＝ ８．９１６ＭｅＶ,并给出了它们的相对强度．     

5-溴水杨基荧光酮-溴化十六烷基三甲铵荧光熄灭法测定微量钼的研究

本文报道了在溴化十六烷基三甲铵（ＣＴＭＡＢ）存在下,以５－溴水杨基荧光酮（５－ＢｒＳＡＦ）作为荧光试剂,用荧光熄灭法测定微量钼的新方法。详细研究了各种条件实验。反应的适宜酸度范围为 ０．０８－０．２４ｍ ｏｌ·Ｌ－ １ ＨＣｌ,钼含量在０－ ４．０μｇ／２５ｍ Ｌ范围内呈线性关系,配合物的组成比为Ｍｏ（Ⅵ）∶５－ＢｒＳＡＦ∶ＣＴＭＡＢ＝ １∶２∶２,激发波长为３６５ｎｍ ,发射波长为５２５ｎｍ 。方法灵敏度高,检出限为２．０μｇ／Ｌ。用于样品中微量钼的测定,结果令人满意。     

强子衰变过程J/ψ→ωπ+π－中的多道耦合

讨论了强子衰变过程J/ψ→ωπ⁺π^－包含的三个不同中间过程J/ψ→ωf₂(1270),f₂→π⁺π^－和J/ψ→b₁^±(1235)π⁺,b₁^±→ωπ^±的耦合问题.这种耦合效应的考虑对于精确测定共振态f₂和b₁^±的参数以及这些反应道的螺旋度振幅比是十分重要的.