等腰三角形结构光编码的面形测量误差分析

对具有等腰三角形齿结构的线性结构光编码的三维面形测量技术（ＬＣＰ）进行了误差分析,推导了由于随机电噪声、相移误差带来的测量误差,并利用计算机系统仿真研究了量化误差、光学系统误差等对测量结果的影响,且对理论分析的结果进行了验证。     

同步光成像方法对加速器储存环束流的测量

利用可见光波段的同步光直接成像对北京正负电子对撞机二期工程（BEPCⅡ）储存环束流的横向截面尺寸进行了测量,对可见光直接成像方法的光路搭建注意事项进行了详细说明,并详细阐述了此测量方法对光路放大倍数的精确测量及过程,同时对可能产生的随机误差和系统误差提出了处理方法,利用点扩散函数（PSF）对成像过程中产生的衍射误差进行了处理,这些处理方法对其他测量系统如X射线小孔成像也适用,并将测量结果与可见光空间干涉方法测量结果进行了对比,且符合很好。     

潜变量机器学习方法在咖啡NIR定量分析中的应用

采用近红外（NIR）光谱快检技术实现对咖啡蛋白质的定量检测,研究支持向量机（SVM）和极限学习机（ELM）等机器学习方法在建模分析中的实用性。结合潜变量分析技术,建立潜变量SVM（LV-SVM）模型和潜变量ELM（LV-ELM）模型,通过调试潜变量个数和机器学习关键参数的联合优选,实现数据降维和机器学习关键参数的同过程优化。运用定标-验证-测试机制,利用定标集样本建立咖啡蛋白质的NIR分析模型,随参数变动形成三维随动优选结构的建模预测结果,结合验证集样本对模型进行联合优选,然后将优化模型应用于测试集样本进行模型评价。LV-SVM建模优选的验证集预测均方根误差为6.797,对应的测试集预测均方根误差为8.384。LV-ELM建模优选的验证集预测均方根误差为6.118,对应的测试集预测均方根误差为7.837。与常规偏最小二乘（PLS）方法相比较,LV-SVM和LV-ELM方法均取得更好的预测结果,验证了潜变量机器学习方法在近红外定量分析中的应用优势,该方法有望应用于不同类型的咖啡各成分含量检测。     

微光像增强器积分灵敏度单次测量误差分析

为了提高批量微光像增强器性能参数的测试速度，通常采信单次测试数据作为测量结果。在该情况下，参数单次测量结果的误差将直接决定性能评价结果的准确性。以微光像增强器积分灵敏度的参数测试为例开展单次测量误差评定，通过对微光像增强器积分灵敏度的测试方法、测量装置、数据计算等误差情况进行综合分析，计算得到的积分灵敏度单次测量最大误差为6.7%；在该基础上，提出了采用更高加工精度光阑、对入射光测量位置进行修正以及阶段性辅助参量重复性测量校对的积分灵敏度单次测量误差控制方案。研究结果对微光像增强器批量化快速测试具有重要的指导意义和参考价值。     

双重傅里叶变换红外椭偏光谱系统的研制

介绍一种新型红外椭圆偏振光谱实验系统。实验中采用了对光子能量和方位角作双傅里叶变换,及同步旋转检偏和超偏器（RAP）的方法,根据傅里叶变换的四个余弦交流分量,计算相应的光学常数。经过对实验系统各误差来源的分析和纠正,提高了实验精度,使误差控制在1％以内。测量了Au等样品的红外介电函数谱,并用德鲁得（Drude)模型作拟俣运算,获得了与理论计算相一致的结果。     

主被动锁模Nd：YAG脉冲序列的观察和测量

主被动锁模Ｎｄ：ＹＡＧ脉冲序列的观察和测量马忠礼，曾族泽（辽宁师范大学物理系大连１１６０２２）前言在超短光脉冲产生、测量技术中，主被动锁模激光器是获得稳定皮秒脉冲的一种常用方法［１］．为了对输出脉冲的时间特性进行直接观察和测量，采用高速光电测试系统是...     

干涉仪测光波长移动所引入的相位误差

在理论分析的基础上,对国际上目前广泛采用的干涉法测量光纤布拉格光栅（ＦＢＧ）传感系统中的光波长移动所存在的相位测量原理误差进行了实验研究,提出了双相位锁相放大器加动态补偿的测量方案。结果表明,直接用锁相放大器测量布拉格波长移动所对应的相位变化时,如果布拉格波长与其相关的锯齿波光程差幅值不相等,将产生准周期性的测量原理误差。假设扫描锯齿波幅值初始偏差为２０ｎｍ,那么测量原理误差将大到全量程的５％。如     

自聚焦透镜光斑直径,分辨率测试研究

通过显微镜放大、ＣＣＤ图像接收采集、计算机数据处理技术来测量自聚焦透镜（ＧＲＩＮ透镜）光斑直径、分辨率。重点对误差进行分析。通过对样品５２０－０２５－０８３的测试，表明该系统光斑直径、分辨率测试不确定度优于±０．１μｍ及１％，与误差分析相吻合。     

基于平面方程的六光幕精度靶工程化建模及精度分析

针对传统几何法在六光幕精度靶测量模型解算及精度分析中因取近似结构参数而引入误差的问题,提出了基于平面方程的精确解算及精度分析法.依据工程实际,构建了高通用性的六光幕精度靶工程化测量模型及误差传递模型,系统地仿真比较了两类六幕结构中靶距及靶距误差、斜幕角度及角度误差、光源和接收对准误差等多误差源对弹丸速度及着靶坐标测量结果的影响,获得了一系列探测靶面内的测量误差分布数据,并结合实际给出了一个可满足坐标测量误差小于3 mm,相对测速误差小于0.3%指标的工程设计实例.研究结果可为六光幕精度靶的工程化设计与精度评估提供可靠的理论基础及数据参考.     

光锥导光装置耦合效率分析与测试

介绍了光锥导光装置的优势,分析了影响光锥导光装置耦合效率的主要因素,得出了影响光锥导光装置耦合效率的理论模型误差曲线。以光锥端面反射损耗及光纤辐射损耗为主要误差源,测试了光锥导光装置的耦合效率及误差对耦合效率的影响;采用分光比标定的方法测量导光装置的耦合效率,消除了由于激光器输出能量变化给试验中脉冲能量测量环节带来的影响;根据试验测量数据,拟合出误差对耦合效率的影响曲线,通过与理论误差曲线进行对比,验证了理论模型的正确性,同时测得该耦合装置的耦合效率为70．26％。在激光束的入射角度误差〈5°,且在光纤耐受弯折允许范围内甩动光纤的情况下,总误差对耦合效率的影响〈10％,满足实际工程误差的允许范围。该耦合装置已经应用到实际工程中。     

迈克尔孙干涉仪的准确度和重复性误差及测量

迈克尔孙干涉仪的准确度和重复性误差及测量蔡东红（喀什师院物理系８４４０００）吕建伟（徐州师大物理系２２１．００９）杨之昌（复旦大学物理系２００４３３）“迈克尔孙干涉仪”测量光波的波长时，测量值可以达到的有效数字、准确度及重复性误差怎样，是实验研究的一...     

小范围回转轴系测角误差测试方法

为了提高小范围回转轴系测角误差的测量精度,用自准直经纬仪测量测角误差的原理和方法,对影响测量结果的误差源进行了分析,仿真结果表明被测轴系轴线倾斜角度是最主要的误差源.基于误差模型提出了利用最小二乘估计辨识失调参数进而分离引入误差的方法,以实现测角误差的高精度测量.以精度为2″的单轴位置转台为受检对象进行实验验证,相比常规方法的测试结果-309.1″~428.6″,本文方法的测试结果为-0.89″~1.01″和-1.01″~0.93″,测试误差为0.70″和0.78″,消除了设备失调引入的测试误差.该方法具有设备简单、操作便捷,可实现小范围回转轴系测角误差的高精度测试,解决小范围回转轴系工程测试难题.     

一种利用光电流和光透过曲线测量电吸收调制器插入损耗因素的方法

提出一种新颖的方法用于测量电吸收调制器（electroabsorption modulator,EAM）各种因素造成的插入损耗.此方法仅需要测量波长相关的光电流（I_ph-λ）和光透过功率（P-λ）的数据,通过最小二乘法拟合出结果.理论分析表明此方法较精确,实验表明测试结果与理论拟合结果自洽得很好. 关键词： 电吸收调制器 插入损耗 吸收曲线 光生电流     

动态光散射实验

动态光散射技术是测量纳米及亚微米颗粒粒径的有效方法．本文介绍了动态光散射实验的原理、实验装置及方法，并测量了粒径为85nm的聚苯乙烯水溶液的粒径，分析了实验产生误差的原因．     

用于应力双折射分布测量的多构型扫描系统设计

为了实现对不同构型光学样品进行应力双折射分布测量,在使用双弹光调制方法的基础上,设计了一种应用于双折射分布测量的多构型扫描系统。该系统在保证测量的高分辨率的同时,通过保持激光器静止,同时使样品进行快速移动,提高了测量精度与广度。在样品测量方面,采用633 nm(1/4)玻片测试,测试相对误差的范围为0.79%～0.95%,波动范围为0.12 nm,标准差为0.035 2;采用BK7玻璃样品测试,波动范围为0.25 nm,标准差为0.038 9。在扫描精度方面,连续扫描精度误差不超过0.05 mm,连续寸动扫描精度误差不超过0.009 mm。对比实验结果可得出,该多构型扫描系统可有效解决对样品任一区域实现高精度应力双折射测量的问题。     

有机电致发光器件量子效率测量系统的建立及其应用研究

有机电致发光器件（OLED）的量子效率是衡量器件发光性能的一个非常重要的参数，考虑到提高OLED量子效应的基本前提是能精确测得器件的量子效率。本文工作采用美国Keithley公司的系列产品，设计与组建了一套精确测量OLED量子效率的测量系统（主要由真空系统和测试系统组成）。应用本系统测量时，由测量软件通过数据采集卡来实时地对K－2400（稳压源）和K－485（微检流计）进行控制，得到流经器件的电流和器件输的光电流，再经过换算得出注入器件的电子数和从器件输出的光子数，从而能够得到器件的量子效率值，最后由计算机动态地绘制出器件的性能曲线。此外，我们还利用本测量系统对以MEH－PPV为基质的橙红色OLED进行测量，该测试样品在0.0117A/cm^2的电流密度下，测量量子效率为0．39％。     

表面粗糙度数字全息检测

鉴于数字全息表面粗糙度测量是对被记录的数字全息图进行数值重建获得相应的相位值,将其映射为表面轮廓值后来计算表面粗糙度参数的,分别以标准分辨率板和高度标定板为检测样本,对构建的数字全息测量系统进行了重建误差及重复性测试,包括横向尺寸误差及高度误差,横向尺寸重建误差及重复误差分别为1.11%和0.61%,高度重建误差及重复误差分别为11%和1.8%。以宽带介质膜平面反射镜为样本,测得其3段评定长度（包含15个取样长度）的表面粗糙度平均值分别为0.010 37 m、0.010 33 m和0.009 67 m。     

光谱分析方法测试GMLM微间距的实验和方法推广

基于MEMS的光栅平动式光调制器(GMLM)依靠结构中可动光栅和下反射镜之间的微间距的变化来实现光的调制作用,被应用于显示领域。可动光栅和下反射镜之间的微间距是一个关键的参数,传统的测试方法如台阶仪等要破坏结构,WYKO白光干涉仪测量成本高,所以要寻求一种测试成本较低、测量精度较高的测试方法。文章采用非接触的波长扫描式光谱分析方法进行了GMLM可动光栅和下反射镜之间的微间距测试实验研究。实验表明：实验结果和理论分析吻合,验证了理论模型的正确性;对比WYKO白光干涉仪测试,该方法的相对测试误差小于1%;具有很好的重复性。对该光谱分析方法进行了推广,从理论上推导了该方法可以实现准动态测量GMLM器件吸合电压、共振频率以及其他基于衍射/干涉的MEMS器件的微小间距测试等。     

在光学相关器中测试滤波空间光调制器的相位调制特性

研究了在范德卢格特型光电混合相关器中,利用朗奇光栅图像替代实物光栅测试滤波空间光调制器相位调制特性的原理和方法.对XGA2L11型空间光调制器的相位调制特性进行了现场测试,并对测试结果进行了误差分析和光学相关实验验证.结果表明,该方法不需要单独构建测量装置而是完全在相关器的工作状态下测试,保证了空间光调制器的特性测试结果和实际工作性能的一致性.     

UBMS技术制备DLC薄膜的光学常数椭偏分析

采用宽光谱变角度椭圆偏振仪对非平衡磁控溅射（UBMS）技术沉积的类金刚石（DLC）薄膜的光学常数进行了测量与分析。在建立模型时,根据DLC薄膜成膜特性,分析和调整了模型结构;综合考虑了表面粗糙度、薄膜与基底表面及界面因素对测试结果的影响,将表面层和界面层分离出来,并采用有效介质方法对它们的影响作了近似处理。结果表明：硅基底上采用UBMS技术制备DLC薄膜的椭偏数据,经该模型拟合后均方误差（MSE值）从37.39下降到4.061,提高了测量精度。