| BES-Ⅲ MC 前端板FPGA的辐射损伤实验 |
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| 引用本文： | 陈一新,梁昊,薛俊东,侯龙,刘宝莹,刘强,虞孝麒,周永钊.BES-Ⅲ MC 前端板FPGA的辐射损伤实验[J].中国物理 C,2005,29(8):770-774. |
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| 作者姓名： | 陈一新 梁昊 薛俊东 侯龙 刘宝莹 刘强 虞孝麒 周永钊 |
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| 作者单位： | [1]中国科学技术大学近代物理系,合肥230026 [2]中国原子能科学研究院核物理研究所,北京102413 |
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| 摘 要： | 研究了Altera公司ACEX 1K系列现场可编程逻辑门阵列(FPGA，Field Programmable Gate Array) EP1K30TC144-3在g射线和14MeV、2.5MeV中子照射下的辐射影响，对得到的试验结果给出了分析和评估. 对于在BES-IIIm子鉴别器读出电子学系统上应用ACEX 1K系列FPGA的可行性给出了结论.
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| 关 键 词： | FPGA 辐射 ACEX 1K SEU |
| 收稿时间： | 2004-12-02 |
| 修稿时间： | 2004-12-02 |
Irradiation Test of FPGA for BESⅢ |
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| Chen YiXin;Liang Hao;Xue JunDong;Hou Long;Liu BaoYing;Liu Jiang;Yu XiaoQi;Zhou YongZhao.Irradiation Test of FPGA for BESⅢ[J].High Energy Physics and Nuclear Physics,2005,29(8):770-774. |
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| Authors: | Chen YiXin;Liang Hao;Xue JunDong;Hou Long;Liu BaoYing;Liu Jiang;Yu XiaoQi;Zhou YongZhao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | FPGA radiation damage single event upset |
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