测量任意波片相位延迟量的简便方法

为了更方便的测量待测波片的相位延迟量,提出了简便易行的测量任意波片相位延迟量的方法,无需标准1/4波片,而且还可以利用一套实验系统同时测量2个未知波片的相位延迟量,并从理论上推导出了通用测量公式,从实验上进行了实际测量.     

斜入射时波片相位延迟和偏振像差的精确公式

在激光技术和偏光显微镜中常常在斜入射状态下使用波片，本文提出了一个波片相位延迟和偏振像差的精确公式。这一公式对于精确计算波片的调谐曲线和偏光显微镜的偏振像差十分重要。计算表明只要适当选择晶体的方位角，波片的相位延迟和偏振光的椭圆率随入射角的改变能减少到最小。     

基于双弹光差频调制的中红外波片相位延迟高精度测量

提出了一种基于双弹光差频调制的中红外相位延迟精确测量方法。通过两个硒化锌型弹光调制器(PEM)的差频降低系统调制频率,产生载有被测相位延迟的低频调制信号,调制后的1倍差频幅值和2倍差频幅值相除可求得被测波片的相位延迟。该方法可有效抑制光强波动及PEM相位延迟波动对测量的影响,提高测量精度。对测量原理进行了理论推导,设计了硒化锌型PEM和实验系统。实验结果表明,相位延迟测量误差不大于0.004%,灵敏度可达5×10~(-4) rad。     

波片相位延迟量精密测量新方法

利用旋转波片的偏振干涉技术，结合机械－光学旋光调制器对光相位的调制，通过判断方波信号的有无，可精密地确定被测定片相位延迟的数值，机械－光学旋光调制器的使用，大大简化被测样品和测试装置中四分之一波片光轴方位的调整，也显著地提高了装置测量的灵敏度和波长测量范围，对环境不作特殊控制，依据本方法建立的测试装置的相对测量误差可小于千分之五。     

基于最小二乘拟合的波片相位延迟测量

提出一种精密测量波片相位延迟的新方法.将待测波片置于起偏器和检偏器之间,通过步进电机控制波片匀速旋转,基于最小二乘法拟合出射光强随波片方位角变化的曲线,进而得到波片延迟.根据上述原理,建立了一套波片延迟测量系统,并分析了系统的稳定性、可测量的延迟范围、接收器件的非线性效应、系统误差源这4个影响测量精度的主要方面.结果表...     

二元复合波片延迟相位方位效应探讨

在多级波片方位效应的基础上，探讨了复合波片的方位效应问题。通过对多级波片的设计与测量，论证了入射光方位是影响波片延迟量的关键因素。     

偏光干涉法测量波片相位延迟量和厚度

基于偏光干涉理论,提出一种宽光谱范围内测量波片相位延迟量和厚度的方法。利用矩阵光学方法分析了光谱透射率曲线与中值透射率直线交点波长之间的关系,给出待测波片的相位延迟量、波片厚度等多个物理量的计算公式并进行了误差分析。误差分析表明本方法相位延迟量测量最大误差为3.38°,厚度测量最大误差为0.66μm。实验上利用分光光度计验证了本方法的有效性。本方法能够实现波片多物理量的同时测量,且调节过程对于起偏器、检偏器透光轴方向及待测波片快轴方向无严苛要求,测量过程对波片也无损伤和污染,在波片加工、使用前质量评估等方面都具有一定的应用价值。     

1/4波片相位延迟分布的动态测量

通过密勒矩阵和斯托克斯参量法对一种1/4波片的相位延迟分布的测量模型进行了推导,并设计出一种空间分光移相器,取代一般测量系统中的检偏器,使得系统能于瞬间同时采集四幅具有90°移相步长的干涉图,避免了环境振动对测量的影响,从而可以对1/4波片的相位延迟分布进行动态在线测量.对一个实际标称波长632.8 nm的1/4波片进行了测量,结果显示其平均延迟量为149.36 nm,且接近75%部分其相位延迟误差在5 nm之内,显示出较好的延迟均匀性.     

四区域法消除偏振棱镜缺陷对波片相位延迟测量的影响

在起偏器-待测波片-检偏器系统基础卜提出一种四区域测量波片相位延迟量的方法.调整待测波片和检偏器的方位角,获得相应的四组光强值,通过线性运算得到待测波片的相位延迟量,完全消除了起偏器和检偏器不完全消光带来的误差.由于测量系统中不存在标准波片或其他相位调制元件,允许测量波长仅受偏振棱镜和探测器的限制,因此四区域法可适用于很大波长范围内的波片测量.以λ/4波片为例,理论分析了测量系统利用四区域测量法后的仪器误差为σφ≤士3.49065×10-3rad(约0.2°),精度比原算法提高约1个数量级.实验验证了四区域法能有效提高系统精度.     

共孔径偏振耦合分光系统中反射镜造成的相位延迟差的测量

激光信标共孔径发射接收偏振分光系统的动态相位补偿需要测量望远镜各反射镜对s光和p光的相位延迟差。利用Stokes矢量和Mueller矩阵建立了物理模型,并推导出用测得的回光功率计算相位延迟差的解析式。提出一种通过实验测量回光功率计算反射镜相位延迟差的方法,解决了在0～2p范围内唯一确定反射镜相位延迟差的问题。实际测量了两块反射镜的相位延迟差,并将测量结果用于动态相位补偿偏振分光实验,验证了该方法的正确性。分析了偏振分光棱镜、法拉第旋光器以及近似计算这3个主要的测量误差源,并估计总测量误差约为1°。     

The study of third harmonic demodulation in phase modulation optical heterodyne technique using optical resonator

With the technique of phase modulation optical heterodyne(PMOH), we detected the beat-frequency signal of the reflected wave from a F-P cavity. The frequency of the beat signal was three times of that of the modulation electric field, when the 3rd harmonic of the modulation electric field was used as the phase reference signal. The line shapes of the signal match those of the theoretical calculations, and the dispersion signal has good frequency-discrimination characteristic.     

Linear birefringence parameters determination of a multi-order wave plate via phase detection at large oblique incidence angles

In order to characterize the linear birefringence parameters (LBPs) of a multi-order wave plate (MWP) including ordinary refractive index n_o, extraordinary refractive index n_e and the order number precisely, phase retardation measurement by means of large oblique incidence angle on the MWP has been proposed and demonstrated. However, the effects of spatial shifting and multiple reflections by the MWP depress the accuracy of the measurements significantly. Thus, we propose a retro-reflected geometry in a polarized heterodyne interferometer that can determine the LBPs of a MWP precisely. This method is not only able to reduce the spatial shifting effect but also avoids multiple reflections of the emerging beams. Experimentally, the oblique incidence angle in a range from 30° to 44° was scanned and the highest sensitivity ever for measurements of n_o and n_e for an uncoated MWP was obtained. The detection sensitivity for the refractive indices (n_o,n_e, n_o−n_e) of an uncoated MWP can be up to 10⁻⁶.     

全息位相光栅在使用探测器列阵的激光外差探测系统中的应用

本文给出了探测器列阵和全息位相光栅在CO_2激光外差探测系统中应用的可行性实验研究结果和分析,为实现实用化提供了重要的依据。     

相位激光测距与外差干涉相结合的绝对距离测量研究

 为了克服一般绝对距离测量方法量程和精度不能同时满足的问题,提出一种相位激光测距与外差干涉相结合的绝对距离测量方案。该方案使用相位激光测距技术进行粗测,双纵模He-Ne激光器外差干涉测长技术进行精测,保证两者结合的单值性。建立测量系统,对方案的可行性进行了实验验证,并对影响系统稳定性的因素进行了分析。与双频激光干涉仪的比对结果表明：测量标准差优于1mm,可以满足一些大尺寸的测量精度要求。     

Optical heterodyne measurement of vibration phase

An optical heterodyne system for measuring a vibration phase, which uses a frequency-shifted and phase-modulated reference beam, is proposed. This system is applicable to a rough surface. By using the light scattered by a standard vibrating point on the object surface as the reference beam (local reference beam technique), effects of the uniform displacement of the object can be eliminated, i.e. only the vibration component is detected with no sensitivity to the uniform displacement. Preliminary experiments demonstrate the validity of the theory.     

激光回馈波片位相延迟测量的误差源及消除方法

激光回馈法是一种新型的波片位相延迟测量方法。将波片放置在激光器与回馈镜之间,可使激光回馈波形产生偏振90°旋转（即跳变）现象,而两偏振态所占的周期比（占空比）与波片的位相延迟相关。通过测量占空比即可由计算机自动给出波片位相延迟。采用双向扫描回馈镜,2次获得并测出占空比,这样可以很好地消除两偏振态损耗的波动造成的测量误差,提高了该方法长期测量的稳定性。测量的重复性达到0.5°。该方法结构简单,在线测量精度高,满足工业化生产的需要。     

用于位移精密测量的光外差马赫-泽德干涉仪

本文介绍了我们研制的用于位移精密测量的光外差马赫－泽德干涉仪。由于在光路设计中采用了共光路的布置，共模抑制技术得以实现，环境干扰产生的噪声得到很好的消除，相位检测的稳定性和精度大大提高。使用该干涉仪测量了一台在光学相移器内ＰＺＴ微位移驱动装置的电压－位移关系。测量结果具有良好的线性和重复性，与预期相符。根据测量数据分析，该光外差干涉仪具有３ｎｍ的位移测量精度。     

微振动振幅的精密测量

本文给出一种微振动振幅的精密测量方法.此方法采用光拍相位检测、伺服锁定干涉仪光程差和窄带检测技术,大大提高了信噪比.微振动振幅检测灵敏度达2.2×10~(-2)(?)/Hz~(1/2)(2kHz信号).     

纳米厚度薄膜外差椭偏测量技术的研究

结合激光外差干涉法和透射式椭偏测量原理,研究了一种快速、高精度测量纳米厚度薄膜光学参数的方法。计算并分析了复灵敏度因子随薄膜参数和入射角度的变化规律、椭偏参数的选择及容许测量误差。两个声光调制器产生20kHz的拍频,采用简单的直接比相方法即可获得优于0.1°的相位分辨率,而且测量系统中没有使用任何波片和运动部件,抗干扰能力强且测量过程完全自动化,适用于工业现场在线连续测量。实验数据和理论分析表明,此方法可以达到亚纳米级测量精度。     

Simple method for simultaneous determination of the phase retardation and fast axis of a wave plate

A simple method for simultaneous determination of the phase retardation and fast axis of a wave plate is presented. In this method, double light path compare system is adopted to achieve better accuracy. In the main optical path, laser beam passes successively through a polarizer, a wave plate to be measured, an analyzer, and then is incident on a detector. In the reference optical path, another detector is used to monitor the fluctuation of the light source. With rotation of the wave plate, the maximum and minimum output light intensity, rotation angle of the wave plate are detected in the main light path; corresponding light intensity are simultaneously detected in the reference light path. Based on the light intensity and the rotation angle, the phase retardation and fast axis of the wave plate can be determined simultaneously. The main advantage of this method is its simplicity of apparatus, easy operation, low cost, and high accuracy. We believe that the method reported in this paper should be a useful approach to measure a wave plate without requiring any complex and expensive components.