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Si(111)衬底上ZnO薄膜的磁控溅射法制备及表征
引用本文:汪洪,周圣明,宋学平,刘艳美,李爱侠.Si(111)衬底上ZnO薄膜的磁控溅射法制备及表征[J].人工晶体学报,2005,34(3):479-483.
作者姓名:汪洪  周圣明  宋学平  刘艳美  李爱侠
作者单位:安徽大学物理与材料科学学院,合肥,230039;中国科学院上海光学精密机械研究所,上海,201800
基金项目:安徽省优秀青年科技基金(No.00047208),安徽省高校学术技术带头人后备人选科研基金资助
摘    要:采用磁控溅射法在(111)单晶硅衬底上沉积了ZnO薄膜,并研究了退火温度对ZnO薄膜晶体质量、晶粒度大小、应力和光致发光谱的影响.X射线衍射(XRD)表明薄膜为高度c轴择优取向.不同退火温度下的ZnO薄膜应力有明显变化,应力分布最为均匀的退火温度为500℃.室温下对ZnO薄膜进行了光谱分析,可观测到明显的紫光发射(波长为380nm左右).实验结果表明,用磁控溅射法在单晶硅衬底上能获得高质量的ZnO薄膜.

关 键 词:ZnO薄膜  磁控溅射  X射线衍射  应力  光致发光  
文章编号:1000-985X(2005)03-0479-05

Preparation and Characterization of ZnO Films Grown by Magnetron Sputtering on Si(111) Substrates
WANG Hong,ZHOU Sheng-ming,SONG Xue-ping,LIU Yan-mei,LI Ai-Xia.Preparation and Characterization of ZnO Films Grown by Magnetron Sputtering on Si(111) Substrates[J].Journal of Synthetic Crystals,2005,34(3):479-483.
Authors:WANG Hong  ZHOU Sheng-ming  SONG Xue-ping  LIU Yan-mei  LI Ai-Xia
Institution:WANG Hong~1,ZHOU Sheng-ming~2,SONG Xue-ping~1,LIU Yan-mei~1,LI Ai-xia~1
Abstract:
Keywords:ZnO films  magnetron sputtering  X-ray diffraction  stress  photoluminescence
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