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On thickness dependence of electrical and optical properties of Te thin films
Authors:M Rusu
Institution:(1) “Al. I. Cuza” University, Faculty of Physics, Bd. Copou, 11, R-6600, Iassy, Romania (Fax: +40-32/213330, E-mail: rusugxg@uaic.ro), RO
Abstract:Received: 1 July 1997/Accepted: 6 August 1997
Keywords:PACS: 68  55  Jk  73  61  Cw  78  66  Db
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