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Stress Analysis of ZnO Film with a GaN Buffer Layer on Sapphire Substrate
Authors:
CUI Jun-Peng
WANG Xiao-Feng
DUAN Yao
HE Jin-Xiao
ZENG Yi-Ping
Institution:
[1]Key Laboratory of Semiconductor Materials Science, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083; [2]Materials Science Center, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100083
Abstract:
Keywords:
81
15
Hi
61
14
Hg
61
14
Lj
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