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模糊神经网络在电子器件微波易损性评估中的应用
引用本文:韩峰,王建国,焦李成.模糊神经网络在电子器件微波易损性评估中的应用[J].强激光与粒子束,2004,16(7):909-914.
作者姓名:韩峰  王建国  焦李成
作者单位:1.西安电子科技大学 雷达信号处理国家重点实验室,陕西 西安 710071;2.西北核技术研究所,陕西 西安 710024
基金项目:国家863计划项目资助课题
摘    要: 应用模糊神经网络预测了电子器件失效阈值随高功率微波参数的变化关系。结合电子器件实验数据较少的情况,提出用可能性理论估计器件失效可能性分布的评估方法;结合模糊神经网络的学习预测能力,得到电子器件失效的可能性分布;并将可能性分布和用信息扩散估计方法得到的概率分布进行了比较,前者能够更好地利用实验数据估计器件失效的可能性。

关 键 词:模糊神经网络  高功率微波  可能性理论  易损性评估
文章编号:1001-4322(2004)07-0909-06
收稿时间:2003/6/13
修稿时间:2003年6月13日

Applications of fuzzy neural network to susceptibility assessments of electronic devices illuminated or injected by microwaves
HAN Feng.Applications of fuzzy neural network to susceptibility assessments of electronic devices illuminated or injected by microwaves[J].High Power Laser and Particle Beams,2004,16(7):909-914.
Authors:HAN Feng
Institution:1.Key Laboratory for Radar Signal Processing,Xidian University,Xi''an 710071, China;2.Northwest Institute of Nuclear Technology, P. O. Box 69-12, Xi''an 710024, China
Abstract:In this paper, the fuzzy neural network is applied to evaluate the failure thresholds of electronic devices as a function of the parameters of the high power microwave. Based on the characteristic of experimental data, this paper presents a method to evaluate the possibility distribution of electronic device failure applying the possibility theory. Combining the possibility theory and prediction ability of the fuzzy neural network ,the possibility distribution of electronic device failure can be obtained.
Keywords:Fuzzy neural network  High power microwave  Possibility theory  Susceptibility assessment
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