首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究
引用本文:刘兴占,巩马理,李伦.CCD扫描法检测模具表面缺陷的研究[J].光学技术,2000,26(4):337-338,341.
作者姓名:刘兴占  巩马理  李伦
作者单位:清华大学,精密仪器系,北京,100084
摘    要:介绍了用由面阵 CCD组成的单列阵扫描法测量大型显像管玻壳模具的表面裂纹和砂眼等缺陷。同时还介绍了用软件对图像进行拼接的方法 ,以及采用分维数理论对灰度值进行分割等数据处理技术 ,并获得了较好的实验结果。由实验结果表明 ,该方法的分辨率达到了 0 .0 5 mm。

关 键 词:CCD  扫描  表面缺陷

Study for the detection surface defects of the model by scanning with planar CCD array
LIU Xing-zhan,GONG Ma-li,LI Lun.Study for the detection surface defects of the model by scanning with planar CCD array[J].Optical Technique,2000,26(4):337-338,341.
Authors:LIU Xing-zhan  GONG Ma-li  LI Lun
Abstract:A measuring method of the surface defects for the large model of the monitor tube, by scanning with planar CCD array is presented. And the connective method for images of detection with the software and using the theory of subdivision for the gray value has the advantages of the experimental result. The resolution is 0.05mm.
Keywords:CCD  scanning  surface defects
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号