| 密度泛函方法对SiO分子基态（X 1Σ+）势能函数的研究 |
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| 引用本文： | 徐国亮,吕文静,肖小红,张现周,刘玉芳,朱遵略,孙金锋.密度泛函方法对SiO分子基态（X 1Σ+）势能函数的研究[J].物理学报,2008,57(12):7577-7580. |
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| 作者姓名： | 徐国亮 吕文静 肖小红 张现周 刘玉芳 朱遵略 孙金锋 |
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| 作者单位： | 河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007;河南师范大学物理与信息工程学院，新乡 453007 |
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| 基金项目： | 河南省高校杰出科研人才创新工程(批准号：2006KYCX002)和河南省教育厅基础研究计划(批准号：2008A140006)资助的课题. |
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| 摘 要： | 利用密度泛函B3P86方法，分别选用STO-3G，D95**，6-311G，6-311++G，6-311++G**,cc-PVTZ基组对SiO分子基态(X1Σ+)进行结构优化计算.通过比较得出，cc-PVTZ基组为对SiO分子基态(X1Σ+)进行结构优化最优基组的结论.使用密度泛函B3P86方法，选用cc-PVTZ基组进
关键词：
B3P86
SiO
势能函数
光谱常数
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| 关 键 词： | B3P86 SiO 势能函数 光谱常数 |
| 收稿时间： | 2008-03-17 |
| 修稿时间： | 6/6/2008 12:00:00 AM |
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