HL-2A装置偏滤器位形下氢和碳的粒子通量比

等离子体-壁相互作用通过各种机制释放粒子，主等离子体中杂质的数量限制了装置的性能。要深入认识杂质释放的机制，测量和分析粒子通量非常重要。文献1]中详细描述了用光谱方法测量托卡马克等离子体中来自局部表面的向内的杂质通量，文献2]报道了用这种方法测定ASDEX装置ICRF加热条件下向内的铬的通量。