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| 均差方函数及其在提高CCD条纹测量精度中的应用 | |
| 引用本文： | 王双维,郝乃澜.均差方函数及其在提高CCD条纹测量精度中的应用[J].物理实验,1997,17(3):117-119. |
| 作者姓名： | 王双维 郝乃澜 |
| 作者单位： | 东北师范大学物理系!长春，130024，长春医学高等专科学校!130031，东北师范大学物理系!长春，130024 |
| 摘 要： | 一、引言近年来，各种光电技术的广泛应用是光学测量技术发展的热点．其中以CCD的使用最为常见．利用CCD对图象进行记录和测量在各种光学度量方面都进行了许多尝试．尤其是光束小角度偏转的检测，在光学检验的各个方面都有意义．使用Talbot效应对小角度光束进行测量，是一个十分有效的光学检测手段，近年来已十分成熟地应用于光束的各种物理量的测量，其基本原理简述如下：当平行光垂直照射一个周期性物体时，将在空间某处形成准确的自成像，称之为Talbot像．设周期性物体是光栅常量为d的郎奇光栅，则在Talbot距离z。处产生自成像．若在… |
| 关 键 词： | CCD 电荷耦合器件 干涉 莫尔条纹 均差方函数 |
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