| 叠栅条纹和CCD用于位移和角度的测量 |
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| 引用本文： | 汪涛,石海泉,陶纯匡,文汝红.叠栅条纹和CCD用于位移和角度的测量[J].物理实验,2007,27(10):3-6. |
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| 作者姓名： | 汪涛 石海泉 陶纯匡 文汝红 |
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| 作者单位： | 1. 重庆大学,数理学院,重庆,400045
2. 宜春学院,物理科学与工程技术学院,江西,宜春,336000 |
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| 摘 要： | 将叠栅条纹测量技术和CCD器件结合应用于角度和位移的智能测量系统,该系统利用光栅的衍射自成像现象产生虚拟光栅,与另一光栅形成叠栅条纹,并用CCD光电转换系统,测量叠栅条纹的距离,可得到两光栅间的夹角.当任意一片光栅沿垂直于栅线方向移动时,通过数出移过叠栅条纹数目,即可得到相应光栅移动的位移.本文还分析和讨论了误差来源及给实验带来的影响.
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| 关 键 词： | 泰伯效应 叠栅条纹 位移测量 角度测量 |
| 文章编号： | 1005-4642(2007)10-0003-04 |
| 修稿时间： | 2007年6月29日 |
Measuring displacement and angular using Moiré gratings and CCD |
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| WANG Tao,SHI Hai-quan,TAO Chun-kuang,WEN Ru-hong.Measuring displacement and angular using Moiré gratings and CCD[J].Physics Experimentation,2007,27(10):3-6. |
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| Authors: | WANG Tao SHI Hai-quan TAO Chun-kuang WEN Ru-hong |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | CCD |
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