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吸光光度法连续测定铜电解液中微量锑和铋
引用本文:曹岳辉,黄坚,龚竹青,何春华.吸光光度法连续测定铜电解液中微量锑和铋[J].理化检验(化学分册),2000,36(8):374-375.
作者姓名:曹岳辉  黄坚  龚竹青  何春华
作者单位:中南工业大学,长沙,410083
摘    要:在多数情况下 ,锑和铋以有害痕量元素存在于电解液和金属材料中。在铜电解液中 ,锑和铋的含量决定电解铜的质量 ,当它们的含量达到一定值时 ,电解池中阳极 (粗铜 )的残极率上升 ,同时阴极 (精铜 )表面起瘤 ,从而造成精铜纯度下降 ,故需严格控制锑和铋的含量1 ] 。吸光光度法测定锑和铋的方法虽有不少报道 ,但大多数是单独测定锑或铋 ,连续测定锑和铋2 ] 的方法也有报道。为了提高分析速度 ,本文在文献 3]的基础上 ,研究了在聚乙烯醇存在下 ,硫脲和硫氰酸钾掩蔽 Cu( )等干扰离子 ,碘化钾吸光光度法连续测定锑和铋的含量 ,操作简便 ,线性…

关 键 词:铜电解液      微量分析  吸光光度法
修稿时间:1999-07-08
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