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全反射X—射线荧光光谱的原理和应用
引用本文:陈远盘.全反射X—射线荧光光谱的原理和应用[J].分析化学,1994,22(4):406-414.
作者姓名:陈远盘
作者单位:中国有色金属工业总公司矿产地质研究院 桂林541004
摘    要:本文综述全反射-X射线荧光光谱分析的进展,原理,仪器和应用。参考文献67篇。

关 键 词:全反射  X射线  荧光光谱

Principles and Applications of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry
Chen Yuanpan.Principles and Applications of Total Reflection X-Ray Fluorescence Spectrometry[J].Chinese Journal of Analytical Chemistry,1994,22(4):406-414.
Authors:Chen Yuanpan
Abstract:The advances, principles, Instruments and applications of total reflection X-ray fluorescence spectrometry are reviewed with 67 references.
Keywords:Total reflecton X-ray fluorescence spectrometry  Review  
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