| 基于面阵CCD的影像光度快速测试系统 |
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| 引用本文： | 吴文明,王应海.基于面阵CCD的影像光度快速测试系统[J].光学与光电技术,2005,3(5):43-45. |
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| 作者姓名： | 吴文明 王应海 |
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| 作者单位： | 苏州工业园区职业技术学院电子系,苏州,215021;苏州工业园区职业技术学院电子系,苏州,215021 |
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| 摘 要： | 根据光度学的理论,分析了面阵CCD运用在影像光度快速测量中存在的问题和解决办法,讨论了面阵CCD匹配成与人眼视觉相符合的光度匹配器的匹配方法和误差推算方法,详细介绍了运用光电积分法结合面阵电荷耦合器的影像光度快速测试系统的工作原理、组成结构和设计方法。系统一次成像即可实现全画面各个细节的光度信息,为影像光度参数的快速测试提供了较好的应用技术。
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| 关 键 词： | CCD 影像 光电积分法 光度测试 |
| 文章编号： | 1672-3392（2005）05-0043-03 |
| 收稿时间： | 2005-07-10 |
| 修稿时间： | 2005-08-15 |
Image Fast-Testing Photometer with CCD Array |
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| WU Wen-ming,WANG Ying-hai.Image Fast-Testing Photometer with CCD Array[J].optics&optoelectronic technology,2005,3(5):43-45. |
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| Authors: | WU Wen-ming WANG Ying-hai |
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| Abstract: | According to the theory of photometry, the solution of the CCD array in the photometer is analyzed. The matching method of the CCD array to the CIE is discussed. The principle and design method of the image fast-testing photometer by CCD array are introduced. The results show that the information of the photometer of the picture details is realized entirely by the first imaging. A good method is performed for the parameters of the fast-testing photometer. |
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| Keywords: | CCD array image photoelectric integral measurement photometer |
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