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对PHYWE公司光速测定仪测量方法的改进   总被引:1,自引:1,他引:0  
高立模  徐音 《物理实验》2001,21(3):22-23,25
介绍了PHYWE公司的光速测定仪,并对其测量方法进行了改进。  相似文献   
2.
高精度表面粗糙度外差干涉仪信号处理系统的研制   总被引:3,自引:0,他引:3  
针对用于磨床加工的光外差表面粗糙度在线干涉测量仪,文中介绍了整机的信号处理系统,着重讨论了两项关键技术。即宽动态范围测量信号的自动控制和高精度动态相位测量,系统的测量精度达2.6°(相当于3.2nm),允许测量中最大多普勒频移±20kHz(对应高度的变化率±8.75×10-3m/s),完全满足磨床加工中表面粗糙度在线测量的要求。现场测试证实了这一点,这对于精加工、超精加工表面粗糙度的在线质量控制、提高加工精度等非常重要。  相似文献   
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