基于P31荧光粉的像增强器余辉测量方法研究

荧光屏余辉在高帧频速光子计数等系统应用中起着决定性作用。GJB 7351-2011《超二代像增强器通用规范》荧光屏余辉试验方法中规定光脉冲作为激励源，该方法中光脉冲激励源停止后光源照度下降缓慢，造成在短余辉粉（μs级）和中余辉粉（ms级）的余辉时间测量中测试结果不准。针对该问题，提出了一种在光照持续工作状态下，用光电阴极电压脉冲信号作为激励源的荧光屏余辉测试方法，该方法中光电阴极超快响应时间（一般为1 ns左右）和脉冲电压信号的较短边沿时间（一般可控制在10 ns以内）特性改善了激励源自身时间响应对荧光屏余辉测试结果准确性带来的影响。基于该方法建立了一套微光像增强器荧光屏余晖测量装置，对P31荧光粉的国产三代微光像增强器余辉进行了重复性测量，对测量不确定度进行了误差分析，其扩展不确定度为3.2%，达到了传统光电测试仪器的准确度要求，可满足微光像增强管荧光屏余辉测量的要求。该研究成果为更高性能产品提供了一种检测手段。     

高效透明导电膜荧光屏的研究

介绍了一种新型荧光屏结构，采用透明导电膜代替传统荧光屏中的铝膜作电极.分别测试了新型荧光屏和传统荧光屏的加电特性.实验结果表明新型荧光屏具有较高的耐压性能，对提高X射线变像管的空间分辨率有重要作用，而且能延长变像管的寿命.采用透明导电膜制作荧光屏还具有工艺简单，成本低和成品率高的优点.     

影响超二代像增强器最高增益的因数分析

在阴极灵敏度、微通道板固有增益、屏效以及屏压一定的条件下,超二代像增强器的最高亮度增益由微通道板增益所决定.实验中发现微通道板增益存在一个最高值,当微通道板增益超过最高值时,像增强器会产生自激发光.像增强器产生自激发光时,图像的对比度、分辨力消失,图像亮度的增强作用失去意义.因此超二代像增强器的最高亮度增益受自激发光的...     

流动注射-原子吸收分光光度法测定彩电荧光屏壁玻璃中钾钠钙镁铁

本文应用流动注射分析-原子吸收分光光度法(FLA-AAS)测定彩电荧光屏壁玻璃中的钾、钠、钙、镁、铁的含量、对方法中可能存在的各种影响因素、干扰情况及其消除等进行了较为详细的研究.应用所建立的方法对样品测定取得了满意结果.本文对所建立的FIA-AAS法与常规AAS法进行了比较及讨论     

对一道多考查点习题的解析

带电粒子在电磁场中的运动问题是高考的重点和难点.对于此类问题,必须通过带电粒子所处的物理状态和经过的物理过程勾画出带电粒子在空间运动的情况,建立带电粒子的运动模型,然后根据有关物理规律解题.     

一种真空荧光屏的可靠性分析

基于真空荧光屏(VFD)寿命服从对数正态分布的条件,本文在逐次定数截尾样本下研究了VFD的平均寿命、失效率和可靠度的点估计及其置信下限.并利用Monte-Carlo方法对估计结果的优劣进行了分析比较,验证了结论的正确性和可行性.     

关于电视机的两个物理问题

1为什么有极少数的电视机关机后荧光屏上会有暗斑? 夜晚,打开电视机,在工作一段时间之后,关闭电视机电源及室内的灯光,在黑暗的背景下,有极少数的电视机荧光屏上会出现不规则的暗斑.     

X射线分幅相机真空弧放电损害研究

 基于神光Ⅱ物理实验，研究了X射线分幅相机中真空弧放电对荧光屏和微通道板的损害。通过观测放电点在荧光屏上的位置和输出强度，发现X射线分幅相机存在的3种弧放电形式：散弧、强弧和定弧，由弧点位置和强度的时空变化比较了3种放电形式对器件的损害程度和对相机工作状态的影响。散弧在一定真空度条件下具有很好的稳定性，并且微放电不影响XFC正常性能；强弧的屏输出强饱和，MCP和荧光屏被一次性损害，相机无法正常工作；定弧对相机的正常工作没有影响，放电在两种屏压加载下都表现出稳定的趋向。由场致电子发射理论解释了放电机理，分析了弧放电损坏的稳定性，由实验结果推导了定弧的场增强因子。     

实时X射线辐射摄影系统设计综述

阐述了实时辐射摄影系统中，对转换屏的技术性能要求，综合对比了两种高性能转换屏的优劣。介绍了荧光玻璃屏的材料成份及其转换效率，分辨率，对比灵敏度，动态范围，可见光光谱成分等，当采用荧光玻璃屏，以光纤缩放器作耦合光学系统，并用双近贴象增强器作高速图象开关时，可以实现单次多幅实时辐射摄影的要求，并可降低Ｘ光源的照射量。