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基于第三代同步辐射光源, 在20 keV的入射X射线能量下测量了NO与C2H2分子的康普顿轮廓. 考虑到本次实验结果在pz ≈ 0附近的统计精度达到了0.2%, 本文报道的NO和C2H2的康普顿轮廓可以作为严格检验理论的实验基准. 除此之外, 还分别采用HF方法及密度泛函方法选用不同的基组计算了NO 与C2H2康普顿轮廓. 通过对比实验结果与理论计算, 发现对于NO分子, 加入弥散函数基组理论计算结果与实验符合更好, 说明NO分子基态的电子分布较为弥散. 对于C2H2分子, HF方法理论计算的结果与实验符合较好. 相似文献
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