钯合金中钯的络合滴定

近年来络合滴定测定钯国外曾报导用硫脲(Thio)释放Pd-EDTA中之EDTA,以二甲酚橙为指示剂,用铅返滴释放之EDTA,计算钯含量。该法选择性较好,Fe~(3+)、Ti~(4+)、La~(3-)、Zn~(2+)、Ni~(2+)、Zr~(4-)等等都无干扰,是分析钯合金的较好方法。我们分析钯合金时先以纯钯试验,按文献[1]     

硫脲为络合剂原子吸收测定钯银硅铁非晶合金中的银

以硫脲为络合剂,在低酸性介质中原子吸收测银已被用于矿石样品分析中、文献曾对矿石中一定量的Fe~(3+)、Cu~(2+)、Mn~(2+)、Au~(3+)、Ni~(2+)、Al~(3+)、Ca~(2+)、Cr~(6+)、K~+,Na~+等元素进行试验,结果证明上述元素共存基本不干扰银的测定。大量钯对银的影响未见报导。作者分析Pd-Ag-Si-Fe样品中的Ag时,(Pd80—90%、Ag2.0—12.5%,Si—4%,Fe0.6—13.5%)     

ICP—AES法同时测定掺质钒酸钙晶体中的钙,钒,钕,镱,锗

本文采用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定了掺质Ｃａ３（ＶＯ４）２，晶体中Ｃａ，Ｖ，Ｎｄ，Ｙｂ，Ｇｅ的含量，选择了合适的分析谱线和积分时间，试样用硝酸溶解后直接测定，方法简便，准确，快速，合成试样中各被测元素的回收率为９８％－１０４％，相对标准偏差〈４．０％，Ｎｄ，Ｙｂ，Ｇｅ的检出限为０．０００２－０．０１８μｇ／ｍＬ。     

等离子体发射光谱法测定单晶硅中微量锗

本文阐述了用等离子体发射光谱法测定单晶硅中微量锗的方法。试验了三种样品制备方法，结果表明，样品溶解于硝酸加氢氟酸中，除云硅后直接测定锗的方法最好，其检出限是0.0237μg/mL，合成样品的回收率为99.9%－100.2%，相对标准偏差小于3.6%。     

ICP-AES法同时测定纯铁中八种杂质元素

本文研究了用ＩＣＰ－ＡＥＳ法同时测定纯铁中８种杂质元素：Ｃｒ、Ｃｕ、Ｍｇ、Ｍｎ、Ｍｏ、Ｎｉ、Ｔｉ、Ｖ的分析方法。研究了铁基体地被测元素光谱线的光谱干扰与物理干扰,采用背景扣除法与基体匹配法进行校正。被测元素的检出限为０．４－３．０μｇ／Ｌ,合成试样的回收率为９１－１１０％,杂持元素含量为０．０００３－０．０５％时,测量的相对标准偏差〈９％,方法简便、准确、结果满意。