MRTD高精度测试和校准技术研究

围绕红外热像仪成像参数MRTD（最小可分辨温差）测试问题开展研究，介绍了MRTD的测试方法以及MRTD测试装置—红外热像仪评估系统的工作原理，详细分析了MRTD测试过程中，红外热像仪测试位置、差分黑体温差、差分黑体发射率和光学系统几何像差等因素对测试结果的影响。针对这些问题，提出了采用红外扫描辐射计对红外热像仪评估系统温差进行校准的方法，利用该方法对某空间频率下热像仪MRTD进行测试，并给出了测试结果，为热像仪MRTD参数准确测试提供参考。     

辐射计校准技术的研究

辐射计校准是一种用校准过的标准探测器对通用探测器进行校准的技术。它以绝对辐射计(标准辐射计)作为最高标准，通过选择合适的辐射源标准，用标准辐射计对传递标准探测器进行校准。辐射计校准最核心的设备是标准辐射计和标准辐射源。介绍了使用标准辐射计校准探测器的基本原理。对提高光谱分辨率所用的标准选择问题作了讨论。通过讨论，解决了如何选择探测器和辐射源的问题。通过探测器和辐射源类别的列表以及它们的性能比较，并根据这些性能指标进行权衡，以便选择出合适的标准探测器和标准辐射源。     

红外目标等立体角标定和测量方法研究

为解决红外目标隐身效果评估过程中辐射计视场响应不均匀对测量结果的影响, 提出一种等立体角标定和测量的方法。采用同光路原理消除光学系统轴外像差造成的视场响应非均匀对测量结果的影响, 实现红外隐身目标辐射强度等参数的标定和测量。以标准黑体为测量对象, 采用本文提出的测量方法对其在(3~5)μm的积分辐射强度进行实验验证, 结果表明其测量值与标准值相对误差小于2%, 测量相对不确定度优于3.7%(k=2)。     

室温黑体高精度测温电路的设计

介绍一种测量黑体的高精度测温电路。其测量范围为０—５０℃，测温精度为±０．１℃，最小分辨率为０．０２℃。