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Cs—ARF荧光响应特性的理论分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
邓群立  王庆吉 《光学学报》1991,11(10):96-900
本文利用速率方程和光子逃逸理论,分析了Cs-ARF中荧光自陷效应对输出荧光波形的影响,理论分析与实验结果基本相符。  相似文献   
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