钒钛磁铁矿样品主、次元素的快速分析方法研究

采用SI-PIN半导体探测器、241Am激发源和2048通道分析器及自行研制的SI-PIN 2000便携式X荧光分析仪,对钒钛磁铁矿直接粉末样品中Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu等8个主、次元素进行了分析应用研究。文章叙述了所采用的直接粉末样品法的样品盒结构、基体校正的α系数计算方法、重叠干扰校正原则和漂移校正的方法,并且给出了所选择的分析条件和样品制备方法,分析过程简单、结果准确、分析速度快,特别适应矿山、冶金的生产原料分析需要,有良好的应用前景, 与封闭正比计数器X射线荧光分析仪相比,检出限降低了1个数量级。     

气动雾化进样微波等离子体炬原子发射光谱法研究

本文研究了气动雾化进样低功率微波等离子体炬原子发射光谱法的分析性能,方法对Ag、Al、Ca、Cd、Cu、Fe和Mg的检出限分别为31、17、3.0、6.7、16、5.1和3.1ng/mL,对所研究元素的测定精密度(RSD)在1.7至5.3％之间。另外还研究了易电离元素对测定的影响。