偏最小二乘及双波长K系数光度法同时测定矿物中钛,铁

本文运用化学计量学中的偏最小二乘法及双波长Ｋ系数法实现了Ｔｉ、Ｆｅ的同时测定，方法用于铝钒土及钛铁矿中Ｔｉ、Ｆｅ同时测定，结果满意。     

X-射线荧光光谱分析技术的发展

归纳了X-射线荧光光谱分析技术发展的进程。从现代控制技术的改善、仪器检测性能的提高、元素检测范围的扩大等8方面阐述了波长色散X-射线荧光光谱技术的进展,还就能量色散X-射线荧光光谱仪的X射线管和探测器技术的快速发展及近10年来我国在X-射线荧光光谱分析方法方面的论文发表情况进行了总结,对近年来X-射线荧光光谱仪的发展趋势———手持式、偏振、微束分析等进行了评述,并对其技术的发展方向进行了展望。     

用氢作内标补偿ICP光谱分析中的基体效应

在ICP光谱分析的内标法中,一般必需在校准溶液和试液中定量加入一外来元素作内标,而内标元素在原试料中的含量必须低至可忽略不计。本研究探讨用水中之氢作内标,以克服上述缺点。经对氢的七条谱线(H_α～H_η)的特性进行比较,选择了H_β(486.138nm)作内标线。业已发现,分析线信号与氢信号之间有如下关系(与A.Lorber等报道的AIRCM法相似): 式中,C_i为元素i的浓度,I_i~R和I_H~R分别为元素i和氢的相对发射强度(测定强度与校准强度之比),Φ_i为计算浓度的函数,f_i(I_H~R)是补偿I_i~R/I_H~R比例不一致响应的函数关系     

实验室能力验证的发展

实验室能力验证对于判定实验室的检测能力非常重要。回顾了国际实验室能力验证的起源和发展,重点分析了我国能力验证的发展历程和成就,探讨了我国实验室能力验证中存在的问题和有争议的技术要点。     

原子吸收背景校正的新技术——史密斯-希夫叶法

背景校正在原子吸收光谱分析中是非常重要的,尤其对于石墨炉原子吸收分析。1965年氘弧背景校正器问世,1968年开始商品化,自那以后,大多数原子吸收光谱仪都配备了它。70年代后期,利用塞曼(Zeeman)效应的背景校正器被用于原子吸收光谱仪,但目前仅用在为数不多的仪器上。在1982年的第三十三届匹兹堡分析化学和应用光谱会议上,史密斯—希夫叶(Smith-Hieftje)背景校正法第一次公诸于世,在1983年于阿姆斯特丹举行的第二十三届国际光谱讨论会和第十届原子光谱会议上,H.L.Kahn又再次对其进行描述。本文将介绍这一看起     

矿物分析技术及进展

评述了2001年11月至2003年10月期间国内有关矿物分析技术的现状及进展概况。内容包括综述与会议、重量法与滴定法、光度法、电化学分析法、原子光谱分析法、X射线荧光光谱法、电感耦合等离子体质谱法、联用技术、国家标准方法及其它。     

X射线荧光光谱法测定矿石中钨和钼

本文是研究矿石中常量钨和钼的同时测定。采用过氧化钠分解试样,柠檬酸溶液浸取熔块,使钨和钼成络合物状态保留在溶液中,再用磷酸酸化,然后采用散射线内标法进行X射线荧光光谱测定,取得了较满意的结果。方法快速,省试剂,适用于大批矿石试样中常量钨和钼的测定。     

用氢作内标补偿ICP光谱分析中的基体效应

用ICP发射光谱法测定含有高量基体成份样品中的元素时,由于基体成份对雾化过程和等离子过程的影响,往往会导致发射信号降低,从而得出不正确的测定结果。内标法是补偿基体效应和校正这种误差的一种有效方法。但在内标法中,必不可少地要向校准溶液和试液中定量加入一外来元素作内标,而且内标元素在原试料中的含量必须低至可忽略不计的程度。本研究探讨用水中之氢作内标,以克服上述缺点。