X射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整

应用X射线荧光光谱法分析了矿石样品。将粉碎至粒径为0.088mm的矿样用模压法在32MPa压力条件下加压40s,压制成直径为40mm,厚度为3mm的片样。试验从生产线上选取15个各组分元素含量呈梯度分布的样品以抵消其基体效应,并选用一组已知样品制作工作曲线。以MXF-2400型X射线荧光光谱仪所附带的PC-MXF-E软件中的校正公式,通过化学计量学处理,包括拟合评估、遗传算法及收敛条件的满足等,达到了X射线荧光光谱法分析矿石样品时工作曲线的精确调整。应用此方法分析了3组地质样品,所测定的铜、铅、锌3种元素的含量与化学法所测得的结果完全一致,又用同一样片对其中的5项组分进行6次测定,所得测定值的相对标准偏差均小于1%。     

粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用

应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线.经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024％,尾矿偏差小于±0.004％,精矿偏差不大于±0.127％；相对标准偏差(n=9)≤1.76％.大量实验数据表明,粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定流程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控.