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1.
室温和液氮温度Si基底C60薄膜的微观结构与光学特性比较研究
段金霞
黄新堂
甘仲维
高建明
黄祥平
吕海峰
《应用光学》
2003,24(1):28-30
在室温和液氮温度(77K)下用蒸镀法在Si(111)衬底上制备C60薄膜,用扫描电子显微镜(SEM)研究两种不同基底上制备薄膜的微观结构,并用椭圆偏振光谱仪测量了光学参数(包括吸收光谱,折射率及光频介电常数),结果表明,衬底温度降低,薄膜更均匀,颗粒更细,光学吸收峰位置出现蓝移且在整个光频范围吸收增强。
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