基于时分复用技术的组网地基雷达半实物仿真系统[BT)]

该套基于时分复用技术的组网地基雷达半实物仿真系统,包括L波段雷达半实物系统、P波段雷达以及P波段雷达功能级数学模型。三个系统联合工作,更加完整的模拟战场元素,提高了仿真逼真度与可信度。此外针对半实物模型与功能级数学模型应用时分复用技术,缩减了设备成本,简化了试验方法,降低了试验难度。     

直接光谱法测定高纯氧化钇中稀土杂质

目前,高纯氧化钇中稀土杂质的测定已有很多资料报导,但分析的灵敏度均不高,已发表的工作中大部分采用化学-光谱法或在气氛抑制氰带条件下测定高纯氧化钇中稀土杂质,但由于时间长,操作复杂,成本高等原因而限制了在某些单位的推广。我们对高纯氧化钇中稀土杂质的测定采用直流电弧粉末法,碳粉∶试样=1∶1,PGS-2平面光栅摄谱仪摄谱,灵敏度Nd、     

化学光谱法测定5N氧化钆中14个稀土杂质元素

报道了化学光谱法测定５Ｎ高纯氧化钆中１４个稀土杂质元素，在Ｐ５０７萃淋树脂色层柱上分离氧化钆中稀土杂质元素，分别采用定量分离Ｌａ－Ｓｍ及Ｔｂ－Ｌｕ＋Ｙ和部份分离Ｅｕ的方法，并相应地采用碳粉吸附法和碳粉粉末法进行光谱测定。分离时间为３．５ｈ，测定下限为１．２μｇ／ｇ（ＲＥ）。     

化学光谱法测定6N氧化铕中14个稀土杂质元素

本文利用有铕易被还原的特性，将铕还原为二价进行预分离，继以Ｐ５０７萃淋树脂柱进行二次分离，光谱测定富集物中１４个稀土杂质元素，本方法富集倍数高达２０，０００倍，化学光谱测定了下限为０．６５μｇ／ｇ（∑ＲＥ）可满足６氧化铕产品分析的要求。     

LAPLACE-STIELTJES变换所定义的函数在收敛半平面的零(R)级

文[5]以文[4]等为基础研究了 Dirichlet 级数在右半平面内的(R)级。文[6]进一步定义了零(R)级.文[7]又研究了准确零(R)级.本文在文[2]的基础上,引进 Laplace—Stieltjes 变换所定义的函数在收敛半平面零(R)级的概念,并得到了一些相应结果。考虑 Laplace—Stieltjes 变换所定义的函数     

柱色层分离稀土元素在线检测装置的研究及其应用

目前高纯稀土的制备及分析仍多采用色层分离法。近年来,对离子交换剂中各种淋洗剂,萃取色层法中各种萃取剂、支持体种类等因素的影响,均作了大量研究。但由于实验仍多采用经典的柱色层法,周期长,工作量大,限制了该法的进一步开展。     

化学光谱法测定6N氧化铈中14个稀土杂质元素

提出了二次分离富集－发射光谱法测定高纯氧化铈中１４个稀土杂质元素的方法。所建立的方法分离时间短，富集了倍数高，化学光谱测定下限为０．３３μｇ／ｇ，适用于６Ｎ的氧化铈中１４个稀土杂质元素的测定。     

还原-色层分离富集-光谱法测定荧光级氧化铕中的稀土杂质

发射光谱法直接测定纯Eu_2O_3中的稀土杂质,不能满足荧光级Eu_2O_3的分析要求,应对稀土杂质进行化学富集。铕可被还原为二价,较易与其他三价稀土分离。采用还原~-柱色层法,在封闭体系中进行分离,有效地避免二价铕的氧化而无需保护气氛。针对荧光