金属复盖介质波导的模式色散性质

本文用频率扫描ATR(衰减全反射)法测量了用棱镜耦合的金属复盖介质波导中导模的色散性质,首次在实验中观察到模折射率ReN<1的光导模,实验结果与理论计算相符。实验中发现,耦合效率及N数值与金属层的厚度有关,当金属耦合层的厚度为130(?)时,耦合效率达到极大值。     

关于等离子体川流激发回旋不稳定性的奈奎斯特判据(Ⅱ)

用奈奎斯特图方法得出等离子体川流激发回旋不稳定性的严格判据。分析了川流等离子体温度与静止等离子体温度不等的体系,以及电子温度与离子温度不等的体系。