含负折射率材料并具有零平均折射率的半无限一维光子晶体的表面态

用传输矩阵方法和Bloch定理,从理论上分析以色散介质为背景,由正负折射率材料组成的半无限一维光子晶体的表面态,发现以色散介质为背景,在满足平均折射率等于零的情况下,第一层厚度变化时,表面态将会在较大频率范围内显著变化。讨论了同一入射角度下不同频率的表面态的电场分布情况,结果表明：远离带边的表面态局域长度较小。     

正负折射率材料组成的半无限一维光子晶体的反射率

计算了由正负折射率材料交替生长形成的半无限一维光子晶体的反射率,发现在带隙中,反射率等于1,在通带内,半无限结构的反射率是有限层结构迅速振荡的反射率平均的结果. 当该结构中正负折射率材料的光学厚度相互抵消时,会出现零平均折射率能隙.解析地证明了该结构零平均折射率附近的能隙几乎不随入射角度和偏振情况变化,而且跟晶格常数的标度无关. 关键词： 半无限光子晶体 反射率 负折射率     

巯基棉分离富集-分光光度法测定矿石中银含量

矿石中银的测定主要采用原子吸收光谱法[1]和分光光度法,原子吸收光谱法准确、快速,但仪器较昂贵,不适合小型矿山及选厂对矿石中银测定的需要;而分光光度法测定银存在干扰问题。本工作提出了用巯基棉富集硝酸介质中的银,在pH 5.0的乙酸-乙酸钠缓冲溶液中,银与硫代米蚩酮(TMK)、吐温-80形成紫色配合物,与干扰元素分离[2-4],于波长540nm处测定。方法选择性好、准确度高,适合于较复杂矿石中银的测定。     

活性炭吸附原子吸收光谱法测定矿石中金的基体干扰及消除

试验了活性炭吸附原子吸收光谱法测定矿石中金检测体系中共存离子对金测定的干扰,确立了在校准曲线中加入与试样相近的基体元素来消除基体干扰的方法.经与活性炭吸附氢醌滴定法比对,w(Au)/10-6=96.7时RE=0.93％;标准样品测定的RSD(n=6)＜2％.该方法已应用于矿石中金的测定.