Top介子在高能正负电子对撞机上的产生

在顶色辅助的人工色(TC2)模型框架下,研究了中性top介子和顶夸克的联合产生过程e+e–→ttπ0t.结果显示此过程的产生截面比标准模型和最小超对称标准模型中e+e–→ttH过程的产生截面都要大.在TC2模型合理的参数空间内,其产生截面可达20fb.通过此过程可在将来的对撞机上探测中性top介子.     

正电子湮没参量及其所反映物质信息的探讨

本根据正电子在凝聚态物质中的湮没机制及捕获模型,讨论了正电子湮没参量——正电子寿命谱和多普勒线形等参量所反映的物质信息,给出了各正电子湮没参量与所反映的物质信息之间的定量关系。分析了在该体系中正电子寿命参量与局域电子密度、多普勒线形参量和角关联参量与电子动量密度分布和费米面之关联。     

测量不确定度与实验方案的选择

本通过具体实例简单介绍了如何利用不确定理论进行实验方案的选择。     

中高能区电子与分子散射总截面的计算

实验表明,电子与分子碰撞总截面(TCS)与分子本身固有参数(极化率、键长等)有一定关系,所以可从理论上定量探索这种关系,找出包含这些参数的准经验公式 .理论上可根据散射截面的"低能极限为硬球势散射、高能极限为玻恩近似"的思想,参考实验上测得的一些分子的总截面与分子的极化率的定量关系,我们用分子的几何和物理参数模拟了一种准经验公式.?     

Top-Higgs和top-charm在高能正负电子对撞机上的联合产生

在顶色辅助的人工色(TC2)模型框架下, 研究了top-Higgs和t-c夸克的联合产生过程e⁺e^-→tch_t⁰.结果显示此过程的产生截面在合理的参数空间内可达到10fb, 在高能直线对撞机(LC)上每年可产生几百个事例. 通过此过程可用来探测top-Higgs.     

电子与复杂分子散射的可加性规则研究

独立原予模型IAM(Independent Atomic Model)和可加性规则AR(Additivity Rule)是一个很好的适用于电子与分子中高能正碰撞的有效方法.但是现用的AR对于电子与分子散射的截面计算明显高估了实际值.本文通过从分子的外部特征出发,考虑到屏蔽效应与分子本身的特征和入射电子能量的关系,在GAR和EGAR模型的基础上提出新的EGAR模型,在新的EGAR模型中分子的特点得以体现,可使可加性规则更合理地运用于中高能区的电子-分子散射.