测量分子荧光寿命的一种新方法

分子的荧光寿命,通常可用脉冲荧光法进行测量。若荧光寿命接近或小于仪器响应时间时,则观测到的荧光衰变曲线是真实的荧光衰变曲线与仪器响应函数卷积的结果。为此须采用解卷积方法来求得荧光寿命。解卷积运算不仅其计算过程繁重,而且计算结果受检测仪器响应函数的准确度的影响很大。 本工作提出一种新的测量荧光寿命的方法。该方法是根据观测的荧光衰变曲线的峰值所对应的时间tmax随荧光寿命的增大而单调地变大的关系,选用一些已知寿命的荧光物质作为标准样品,测量标准样品的tmax～τ关系曲线,然后测量待测样品的tmax,据此求出荧光寿命τ。这种方法简便、准确可毋须进行解卷积运算。