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研究了钠、铝对不同电离能和激发能的分析谱线的干扰效应。结果表明干扰效应的大小与干扰剂性质、分析物性质、分析谱线特性及ICP操作参数有密切关系。较系统地讨论了干扰产生的原因。提出了“干扰函数”的概念,该函数可用于统一表征各类非光谱干扰与分析物挥发、原子化、激发、电离过程的依赖关系。 相似文献
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