LD加速寿命测试中的积分球扫描法

介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试中存在的问题,并据此给出了LD高温加速寿命测试的积分球扫描法。首先将LD输出的光通过积分球耦合,然后再通过光纤耦合到探测器(PD)上,避免了LD和PD由于同时老化而带来测量不准确的缺陷。采用积分球空间移动扫描测量LD,可实现单个积分球、单个PD对多个LD的测量。     

光电系统中探测器与光学系统的匹配

研究了小目标在光电成像系统中的成像 ,讨论了光电成像系统中影响系统分辨率的两个主要因素 :光学系统的爱里斑和探测器的尺寸。通过对这两个因素的分析可以看到 ,光电成像系统中光学系统的F数以及系统的工作波段与探测器尺寸的相互制约关系     

1310nm LD组件高低温循环寿命研究

研究了半导体激光二极管(LD)组件的使用寿命。模拟了在不同的环境条件下,对1310 nm LD组件进行了高低温循环寿命实验,建立了循环寿命的数学模型。结果表明:循环寿命与循环的温差、循环的速度成指数关系,通过测试LD组件在高温差、高循环速度条件下的循环寿命,外推器件正常工作条件下的循环寿命。得到了LD组件可靠性数据,为工艺设计人员提出量化数据。     

空间光通信ATP系统的研究

自由空间光通信是以激光为载波,以大气为传输媒质的新型通信技术。捕获、跟踪、瞄准(ATP)子系统是自由空间光通信系统的关键技术之一。给出了空间光通信系统中ATP子系统的原理,对由共轴双检测法组成的ATP系统进行了研究,建立了共轴双检测ATP试验系统。结果表明采用共轴双检测ATP系统能够提高系统精度和稳定性,跟踪精度比复合控制ATP系统有了明显提高。     

激光距离选通技术在微光成像系统中的应用

激光距离选通技术提高了微光条件下的远距离观测的视距,有效的克服了大气的后向散射对微光成像系统成像质量的影响。采用改进的同步控制技术解决了距离选通技术中激光器与摄像机的同步问题。实验结果表明,采用同步控制技术的距离选通技术对提高成像的质量和探测距离起到了关键的作用。     

兆线元EBCCD微光探测系统

研发了一种兆线元EBCCD微光探测系统。该系统采用了俄罗斯生产的电子轰击CCD传感器,该传感器为倒像式静电聚焦系统,CCD为背照式1000×1000像元,传输模式为帧传输。为了获得高质量的图像,采用了多重滤波、自动去背景噪声以及帧叠加的方法。该系统能在10-5lx照度条件下得到较好的视频信号。该系统具有很高的灵敏度和分辨力,与ICCD微光摄像机作了比较。结果表明,电子轰击CCD微光成像系统性能较为理想。