基于光谱技术的水稻稻纵卷叶螟受害区域检测

利用光谱技术探索了水稻稻纵卷叶螟虫害的检测。通过分析田间水稻稻纵卷叶螟受害区和对照区冠层反射光谱和一阶微分光谱特征差异发现,可见光区(400~700 nm),550 nm附近中度受害水稻冠层反射率明显低于对照冠层反射率值,重度受害水稻冠层反射率则高于对照区冠层反射率;水稻受害时,叶片受损及干枯导致叶绿素含量降低,对红光波段(600~700 nm)的吸收减小。近红外区(750~770 nm)范围内,受害水稻冠层反射光谱曲线均不同程度出现"尖峰"波动,且光谱曲线红边拐点发生"蓝移"。通过构建样本总体修正曲线,提供了直观判别广域水稻是否受稻纵卷叶螟虫害侵扰的依据。进一步探讨稻纵卷叶螟受害区定性检测参数发现,利用NIR-NDVI特征可以有效地区分对照区和受害区区域,经验证,准确率达70%。