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纽扣表面缺陷形态、大小、位置多变,导致缺陷检测成为一个具有挑战性的问题。基于缺陷图像信息空间结构相关性,提出了一种基于低秩信息的纽扣图像重建方法。该方法采用低秩约束缺陷图像矩阵,通过回归的方式重构纽扣表面无缺陷图像,并利用差影法分离带有缺陷信息的残差图像,通过局部加权自适应阈值使缺陷有效显现。所提方法将最小化残差矩阵的秩转化为最小化核范数,并通过交替方向乘子法求解回归系数,利用正样本实现图像重建。针对构建的纽扣样本测试集对算法性能进行测试,证明所提方法对于不同类别的纽扣和不同大小、形状的缺陷都是有效的,算法准确率达99%,并且该方法对于光照变化也具有一定的适应性。 相似文献
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基片缺陷与磁光盘原始误码 总被引:3,自引:0,他引:3
分析了基片缺陷导致磁光盘产生原始误码的原因。首次建立了磁光读出光场与基片杂质特性的数学模型,利用数值分析方法研究了读出信号畸变、误码长度与杂质特性的关系。分析结果表明,一定大小的基片杂质是否产生误码,与杂质距记录层的距离、杂质距读写光斑的距离以及读出阈值电平等因素有关。 相似文献
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磁光盘原始误码特性测试中的等效性问题分析 总被引:1,自引:0,他引:1
在磁光盘原始误码特性测试过程中通常采用记“1”测漏码,或记“0”测冒码的方法测试盘片的误码性能。本文侧重分析了介质膜缺陷导致盘片产生误码的原因,建立了读出畸变信号与介质膜缺陷参量(如大小、位置、缺陷因子等)的数学模型。分析表明,在盘面记“1”和记“0”两种情况下,同一介质膜缺陷产生的信号畸变幅值相等,从而从理论上证明了记“1”测漏码与记“0”测冒码具有一定等效性。 相似文献
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