电子束电偏转实验中亮斑的线度研究

从理论上研究了"电子束电偏转实验"中亮斑的形成原因及其线度的影响因素,推导出电子流偏转总量x、亮斑线度Δ的表达式,并进行了数值模拟.研究结果表明,亮斑是由射入偏转电场的锥形电子束(其锥角Δθ实为一很小的量)引起,而造成Δ随加速电压U_1、偏转电压U_x变化的原因是由于Δθ关于偏转电场中心轴(z轴)的不对称分布.Δ的大小还取决于Δθ的大小.     

ZnTe结构相变、电子结构和光学性质的研究

运用密度泛函理论体系下的投影缀加波方法, 对闪锌矿和朱砂相结构的ZnTe在高压下的状态方程和结构相变进行了研究, 并分析了相变前后的原胞体积、电子结构和光学性质. 结果表明: 闪锌矿结构转变为朱砂相结构的相变压力为8.6 GPa, 并没有出现类似材料高压导致的金属化现象, 而是表现出间接带隙半导体特性. 相变后, 朱砂相结构Zn和Te原子态密度分布均向低能级方向移动, 带隙变小; 轨道杂化增强, 更有利于Te 5p与Zn 3d间的电子跃迁, 介电常数虚部主峰明显增强, 但宏观介电常数不受压力的影响.