D波段双球镜准光系统测量低耗介质

采用双球镜准光腔、频谱仪和锁相返波管组建了D波段低损耗介质测试系统,该系统通过频谱仪和外置谐波混频器得到腔体谐振测试数据,并用拟合或积分方法从谐振曲线中求解出准光腔的品质因数。测得双球镜开腔的固有品质因数大于8105,使该系统在工作波段可测量损耗角正切为10-5量级的低损耗介质。用该系统测出的石英、人造金刚石和蓝宝石的介电常数和损耗,与报道的结果一致,并测得4H-SiC在132.07 GHz的介电常数实部为9.598,损耗角正切为6.110-5。     

准光腔品质因数的标网测量与研究

 采用标量网络分析仪(SNA)对毫米波段的Fabry-Perot准光腔进行了品质因数测定。通过纵向半波数的测试确定了谐振峰对应的模式，给出了AV3617测量数据并计算了相应的外观品质因数和固有品质因数，详细分析了扫频测试的误差及其误差来源。分析表明，半功率点的频率测定误差是引起准光腔品质因数测量误差的主要因素；利用扫频源HP83630A较高的频率分辨率，结合参考频标使测试数据的有效位数增加，从而提高了测试准光腔品质因数的精度。