Monte Carlo方法计算多层薄膜中X射线发射强度

基于作者发展的电子散射模型,多层介质中电子散射理论、X射线强度、吸收和荧光计算公式,用Monte Carlo方法计算了多层薄膜中X射线发射强度比值。在不同加速电压下,对Si衬底上Au,Cu多层膜及Cr,Ni多层膜计算的强度比与EPMA实验结果广泛一致。本工作为最终解决多层薄膜X射线定量显微分析的难题奠定了理论基础。     

低能电子在固体中散射理论及Monte Carlo模拟计算方法

本文应用较严格的理论描述低能电子在固体中散射的过程,提出了对该过程进行直接模拟的计算方法:经作者改进的Pendry分波法模型计算电子与原子间的弹性散射;非弹性散射既考虑壳层电子、导带电子贡献,也计入等离子激发的影响;电子散射及二次电子级联过程用Monte Carlo方法严格模拟,对不同能量低能电子作用下,Cu的二次电子产额、能谱曲线及背散射系数作了计算,所得结果与Kashikawa等的实验事实一致。     

X射线光子在固体中空间密度分布的蒙特卡罗模拟计算软件

基于作者发展的物理模型和计算方法,编制了计算固体中X射线光子的空间密度分布的软件。该程序可模拟keV能量的电子束在固体中的散射过程和X射线光子的激发,定量给出X光光子的空间密度分布和包含不同比例光子数的空间范围。这对电子显微学的定量研究是很有意义的。     

微颗粒样品X射线定量分析Monte Carlo模拟计算软件

基于作者前文[1,2]的物理模型和计算方法,编制了适用于多元微颗粒样品x射线定量分析的Monte Carlo程序软件,给出了对颗粒中电子散射,x射线激发、吸收和荧光效应等复杂物理过程进行严格计算的一系列公式,程序中建立了数据文件,具有较强的自动处理数据功能,本程序还适用于平厚块样品及薄膜样品的定量分析计算。     

规则形状多元组份样品的X射线微区定量分析计算方法

本文提出了用Monte Carlo迭代计算实现规则形状多元组份样品X射线定量分析的理论和方法。用绝对法计算了样品的X射线深度分布函数,给出了具有广泛适用性的X射线吸收校正和二次荧光校正计算公式。作为实例,对Fe-Cr-Ni标准合金块状样品、6元合金球状颖粒样品及合金γ′相(8元组份)的立方和长方颗粒样品作了EPQA实验,用本方法对实验结果作了计算,得到满意的结果。文中给出定量分析计算程序流程图。电子在合金中散射过程用文献[1]提出的模型进行计算。     

多层簿膜厚度XQMA测定及Monte Carlo计算方法

本文提出了应用X射线显微分析实验及Monte Carlo模拟计算电子散射、X射线激发来确定多层薄膜样品每一层厚度的方法.在几种加速电压下,对不同组成、不同厚度的多层膜进行了测定,所得结果与核背散法测定值一致.相对误差小于10％.文中给出了计算程序流程图.     

不规则形状超微颗粒XQMA计算方法——Monte Carlo直接模拟

基于文献[1]的工作,建立了不规则形状超微颗粒样品的XQMA计算方法。采取Monte Carlo直接模拟,避免了通常分离 Z.A.F系数的繁琐计算;应用“等效几何形状”的概念,将适用于规则形状颗粒的计算公式推广到不规则形状样品中。本方法在超微颗粒的X射线定量分析实验中得到验证。     

Monte Carlo迭代计算应用于多元合金X射线微区定量分析

本文首次提出了用Monte Carlo迭代计算实现多元组份样品X射线定量分析的理论和方法。作为实例,对Fe-Gr-Ni标准合金块状样品在不同加速电压下作了EPQA实验,用本方法所得结果略优于著名的ZAF方法。给出的定量分折计算程序流程具有较高自动化,电子在合金中散射过程用文献[1]提出的模型进行计算。     

Monte Carlo方法计算晶体析出相的X射线发射强度

本文提出了用Monte Carlo模拟计算晶体中析出相X射线发射强度的理论和方法。作为实例,对不同加速电压下Au,Cu基体中Cr—Fe—Ni合金析出相的X射线发射强度作了计算,并得出一些规律。