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1.
光弹性等差条纹级数的识别   总被引：1，自引：1，他引：1  
本文根据光弹性和光干涉原理,提出了利用双波长测得的扣纹级数小数部分计算条纹全量的方法,并经计算和实验验证其正确性,它的精度取决于小数条纹部分的测量精度.本方法将为光弹性实验数据的自动采集提供了方便.  相似文献   
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