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晶体学   1篇
出版年
  2004年   1篇
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本文介绍了电子显微镜、X射线衍射、氮吸附小比表面法、红外光谱结构分析、研磨法等用于陶瓷氧化铝晶粒度测定的情况,通过对比,指出了电子显微镜能够真实地反映微观世界,是多种分析方法的基础.  相似文献   
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